靜電測(cè)試文章進(jìn)入靜電測(cè)試技術(shù)社區(qū)

電磁輻射元兇，你用頻點(diǎn)找到的么?

在電磁兼容（EMC）實(shí)驗(yàn)中，通過超標(biāo)頻點(diǎn)推測(cè)問題源是常見的方法。不同接口和電路特性往往對(duì)應(yīng)特定的頻率特征。以下是常見接口或電路問題對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)特性總結(jié)：1. USB 接口頻點(diǎn)范圍：60 MHz、120 MHz、240 MHz：與 USB 2.0 的時(shí)鐘頻率（480 Mbps 的倍頻）相關(guān)。125 MHz、250 MHz：USB 3.0 超高速信號(hào)（5 Gbps）相關(guān)的倍頻。原因可能是：差分信號(hào)不平衡，導(dǎo)致共模電磁輻射。屏蔽層連接不良或沒有良好的接地。端接電阻不匹配，導(dǎo)致信號(hào)反射。2. 以太網(wǎng)（RJ45 網(wǎng)口
關(guān)鍵字： EMC 靜電測(cè)試

在提到干擾對(duì)USB的影響時(shí)，差分?jǐn)?shù)據(jù)傳輸與簡(jiǎn)單的同軸電纜相比具有很大的優(yōu)勢(shì)。在感性干擾效應(yīng)(磁場(chǎng))情況下，導(dǎo)線的絞合可以彌補(bǔ)干擾效應(yīng)?！馯SB控制器的輸入/輸出不是完全對(duì)稱的，因此USB信號(hào)顯示出共模干擾。●Layout與HF/EMC不兼容，寄生電容和缺少波阻匹配會(huì)產(chǎn)生共模干擾。●電路設(shè)計(jì)(USB濾波器)不充分，濾波器影響信號(hào)質(zhì)量，和/或插損太低。●接口設(shè)計(jì)(插座，外殼)不充分。不良的接地會(huì)減小電纜的屏蔽衰耗。濾波器具有不良的接地參考?！馯SB電纜不對(duì)稱、屏蔽不良以及沒有足夠好的接地。這種電纜會(huì)劣化信號(hào)質(zhì)
關(guān)鍵字： EMC 靜電測(cè)試 USB

分享一個(gè)EMI整改文檔，對(duì)于EMC來(lái)說，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓(xùn)，總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，避免設(shè)計(jì)中出現(xiàn)同樣的問題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個(gè)頻點(diǎn)的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無(wú)線產(chǎn)品，對(duì)于主頻--有意輻射頻率來(lái)說是有豁免權(quán)的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標(biāo)帶寬較寬，可以肯定非時(shí)鐘、晶振輻射超標(biāo)引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過最后的結(jié)果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點(diǎn)
關(guān)鍵字： EMC 靜電測(cè)試

EMC是一個(gè)棘手的問題，下面這個(gè)文章一定值得你看，從源頭解決問題才是真正的解決問題。首先看定義，定義主要按照問題性質(zhì)，分為電源、時(shí)鐘CLK問題、地不平衡問題。再看原因分析：針對(duì)三種問題，小編都有舉例分析。先看電源問題：1、排查手段2、問題分析一般電源問題為DC-DC電路器件（DC-DC芯片、電感、二極管）選型問題：一般電源問題為DC-DC PCB部分設(shè)計(jì)不合理問題：3、根源再看時(shí)鐘問題：解決思路中的傳統(tǒng)方案?jìng)鹘y(tǒng)手段：硬件擴(kuò)頻：解決思路中的更換方案：地不平衡問題:最后，分析思路：EMC三大規(guī)律規(guī)律一：EMC
關(guān)鍵字： EMC 靜電測(cè)試

電子產(chǎn)品如手機(jī)，智能手表，TWS耳機(jī)在認(rèn)證時(shí)往往需要做靜電測(cè)試，測(cè)試過程出現(xiàn)不可恢復(fù)的故障，或整機(jī)復(fù)位重啟。問題詳細(xì)描述某智能手表在靜電測(cè)試時(shí)，打充電輸入端子的接觸±4KV出現(xiàn)系統(tǒng)復(fù)位，甚至概率性卡死，長(zhǎng)時(shí)間不能恢復(fù)。充電端子在bottom層，板子為四層一階。問題具體分析1、分析如下：經(jīng)過對(duì)PCB的研究發(fā)現(xiàn)，在充電彈片和正極充電路徑下方的相鄰層信號(hào)線過多，沒有完整的地來(lái)釋放靜電，并有高速的flash信號(hào)經(jīng)過。當(dāng)靜電打進(jìn)來(lái)時(shí)，靜電瞬間干擾到信號(hào)走線，靜電管還來(lái)不及釋放靜電，導(dǎo)致系統(tǒng)異常。第四層(bottom
關(guān)鍵字： EMC 靜電測(cè)試

一、前言　　LED應(yīng)用已擴(kuò)大至各個(gè)領(lǐng)域，包含LCD Backlight、手機(jī)Backlight、號(hào)志燈、藝術(shù)照明、建筑物照明及 ...
關(guān)鍵字： LED 品質(zhì)提升靜電測(cè)試

汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測(cè)試對(duì)比靜電放電是一種自然現(xiàn)象，當(dāng)兩種不同介電強(qiáng)度的材料相互摩擦?xí)r，就會(huì)產(chǎn)...
關(guān)鍵字：汽車電子普通電子產(chǎn)品靜電測(cè)試

　　中心議題：　　汽車電子與普通電子產(chǎn)品在靜電測(cè)試對(duì)比　　靜電放電是一種自然現(xiàn)象，當(dāng)兩種不同介電強(qiáng)度的材料相互摩擦?xí)r，就會(huì)產(chǎn)生靜電電荷，當(dāng)其中一種材料上的靜電電荷累計(jì)到一定程度，在與另外一個(gè)物體接觸時(shí)，就會(huì)通過這個(gè)物體將電荷導(dǎo)入大地從而進(jìn)行放電。靜電放電及其影響是我們?cè)陔姶偶嫒蓊I(lǐng)域(EMC)所關(guān)心的重要一點(diǎn)。　　靜電問題對(duì)電子設(shè)備來(lái)說是必須考慮和預(yù)防的。為了防止電子設(shè)備在靜電干擾時(shí)出現(xiàn)產(chǎn)生不必要的誤動(dòng)作，因此各個(gè)國(guó)家、各
關(guān)鍵字：汽車電子靜電測(cè)試

共8條 1/1 1

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條靜電測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)靜電測(cè)試的理解，并與今后在此搜索靜電測(cè)試的朋友們分享。創(chuàng)建詞條