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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 驗(yàn)證及測試論壇”

NI主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇”

  • 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）于9月底在北京成功主辦第三屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇”（Design Validation and Test Forum，即DVTF 2006）。本屆DVTF是繼2004和2005年之后，NI連續(xù)第三年在中國地區(qū)成功地舉辦這一活動，并且DVTF的品牌業(yè)已在行業(yè)用戶和媒體間確立了相當(dāng)?shù)闹取? 本屆論壇以一場形式新穎的主題演講開始，并分為“自動化測試”和“嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)”兩
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NI 中國成功舉辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇”

  •     新聞發(fā)布——2005年5月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）于4月在上海國際會議中心成功主辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測試緊跟設(shè)計(jì)的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術(shù)人員和院校教師參與此次盛會，其中97.1%的來賓表示“此次活動對他們的工作有所幫助”，70%將會推薦他們的同事參加明年的“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測試論壇”
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驗(yàn)證及測試論壇”介紹

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