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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 高速并行

一種基于高速并行A／D轉(zhuǎn)換的激光z掃描的 高頻窄脈沖信號(hào)幅值測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

  • O 引 言Z掃描是一種應(yīng)用于光學(xué)非線性測(cè)量的方法，使用這種方法可以測(cè)量光學(xué)材料非線性折射率的大小、正負(fù)以及非線性吸收系數(shù)。因?yàn)橥ㄟ^光學(xué)材料
  • 關(guān)鍵字： 高速并行  D轉(zhuǎn)換  高頻  幅值  

基于ADSP2106X高速并行雷達(dá)數(shù)字信號(hào)處理系統(tǒng)設(shè)計(jì)

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： ADSP2106X  高速并行  雷達(dá)  數(shù)字信號(hào)  處理系統(tǒng)  

基于FPGA高速并行采樣技術(shù)的研究

  • 摘要：介紹一種基于四通道ADC的高速交錯(cuò)采樣設(shè)計(jì)方法以及在FPGA平臺(tái)上的實(shí)現(xiàn)。著重闡述四通道高速采樣時(shí)鐘的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)、高速數(shù)據(jù)的同步接收以及采樣數(shù)據(jù)的校正算法。實(shí)驗(yàn)及仿真結(jié)果表明，同步數(shù)據(jù)采集的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和預(yù)
  • 關(guān)鍵字： FPGA  高速并行  采樣技術(shù)    

時(shí)鐘分配芯片 在高速并行數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用

  • 1 經(jīng)典采樣理論
    模擬世界與數(shù)字世界相互轉(zhuǎn)換的理論基礎(chǔ)是抽樣定理。抽樣定理告訴我們，如果是帶限的連續(xù)信號(hào)，且樣本取得足夠密(采樣率ωs≥2ωM)，那么該信號(hào)就能唯一地由其樣本值來表征，且能從這些樣本值完
  • 關(guān)鍵字： 時(shí)鐘分配  高速并行  芯片  數(shù)據(jù)采集    

一種基于高速并行A／D轉(zhuǎn)換的激光z掃描的 高頻窄脈

  • O 引 言
    Z掃描是一種應(yīng)用于光學(xué)非線性測(cè)量的方法，使用這種方法可以測(cè)量光學(xué)材料非線性折射率的大小、正負(fù)以及非線性吸收系數(shù)。因?yàn)橥ㄟ^光學(xué)材料的激光能量大小與光電接收器轉(zhuǎn)換后獲得的電壓幅值成某種比例關(guān)系
  • 關(guān)鍵字： 高速并行  D轉(zhuǎn)換  高頻  幅值    
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高速并行介紹

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