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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 高速測試

高速測試測量的時鐘恢復(fù)方案

  • 不管是放到測試設(shè)置中，還是作為被測設(shè)備的一部分，時鐘恢復(fù)都在進行準(zhǔn)確的測試測量時發(fā)揮著重要作用。由于大多數(shù)千兆位通信系統(tǒng)都是同步系統(tǒng)，因此系統(tǒng)內(nèi)部的數(shù)據(jù)都使用公共時鐘定時。不管是沿著幾英寸的電路板
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可處理高數(shù)據(jù)率的創(chuàng)新型串行總線測試方法

  • 在高端運算(先進的微處理器)和消費電子(圖形和游戲芯片組)設(shè)備中采用的半導(dǎo)體器件一般通過高速串行總線接口...
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Agilent發(fā)布EXA用于 TD-SCDMA高速測試

  •      隨著奧運會的臨近，TD-SCDMA移動通信網(wǎng)的布設(shè)和手機平臺招商采購都進入了關(guān)鍵階段，在這樣的機遇下，通信測試解決方案市場迎來新一輪商機，Agilent公司為了滿足這些市場需求，推出了專門針對TD-SCDMA生產(chǎn)制造應(yīng)用的通信測試儀器，力爭在短時間內(nèi)占據(jù)先機。     針對國內(nèi)的3G標(biāo)準(zhǔn)TD-SCDMA，Agilent推出了高速EXA經(jīng)濟型信號分析儀，依靠在速度和精度和廣泛的應(yīng)用范圍等方面的優(yōu)勢，開發(fā)和制造工程師可以經(jīng)濟高效地
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嵌入式測試方案及高速測試技術(shù)

  • 前  言   目前，在許多應(yīng)用領(lǐng)域，例如處理器、移動電話、調(diào)制解調(diào)器等產(chǎn)品，SOC技術(shù)已經(jīng)成為主要的研究方向。這類SOC芯片整合了數(shù)字邏輯電路、模擬電路、內(nèi)存模塊以及知識產(chǎn)權(quán)(IP)核，甚至將微處理器、外圍接口、通信模塊皆能包括于一芯片中。SOC芯片的應(yīng)用，對于提升系統(tǒng)性能、減少系統(tǒng)能耗、降低系統(tǒng)的電磁干擾、提高系統(tǒng)的集成度都有很大的幫助，順應(yīng)了產(chǎn)品輕薄短小的趨勢。   安捷倫公司推出的93000 SOC測試系統(tǒng)，完全滿足業(yè)界需求，對于
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高速測試介紹

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