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顯微鏡的STM原理與AFM工作原理

  • 顯微鏡的STM原理與AFM工作原理STM概述1982年，國際商業(yè)機器公司蘇黎世實驗室的G..Binnig和HeinrichRohrer及其同事們共同研制成功了世界上第一臺新型的表面分析儀器—掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope...
  • 關鍵字： 顯微鏡  STM原理  AFM  

AFM：應對65nm以下測量技術挑戰(zhàn)

  • 半導體工業(yè)目前已經(jīng)進入65納米及以下技術時代，關鍵特征通常為納米級，如此小特征的制造工藝要求特殊的測量儀器，以便能夠表征出納米級幾何尺寸，從而檢驗出任何偏離工藝規(guī)格中心值的情況，確保與設計規(guī)格保持一致。
  • 關鍵字： AFM  65  nm  測量技術    

Asylum Research延長AFM系統(tǒng)使用保證期至兩年

  •         Asylum Research近日宣布將對其原子力/掃描探針顯微鏡（AFM/SPM）產(chǎn)品提供2年的標準性保證，包含Ayslum MFP-3D和Cypher AFM線上完整AFM系統(tǒng)的零部件和人力維護。在普通使用過程中產(chǎn)生的問題，Asylum將為客戶提供零成本維修。這項新的維護是對Asylum的6個月無條件退款保證的補充，為客戶提供更新更高標準的保護。
  • 關鍵字： Asylum  AFM/SPM  
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