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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> emi測(cè)試

關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會(huì)

  • 當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品無法通過EMI 測(cè)試﹐首先就要有一個(gè)觀念﹐找出無法通過的問題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬(wàn)不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對(duì)策。常常有許多有經(jīng)驗(yàn)的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對(duì)于產(chǎn)品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就下藥方﹐當(dāng)然一般皆可能 非常有效﹐但是偶而也會(huì)遇到很難修改下來﹐最后發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵都是起行認(rèn)為不可能的地方﹐之所以會(huì)種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認(rèn)一次﹐甚而多次確認(rèn)。這是因?yàn)樵斐蒃MI 的問題往往是錯(cuò)綜復(fù)雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反
  • 關(guān)鍵字： EMI測(cè)試  測(cè)試測(cè)量  

當(dāng)RF遇到模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)–EMI測(cè)試

  • 當(dāng)前，對(duì)工程師們來說，EMI (電磁干擾)和EMC (電磁兼容性)即使不算災(zāi)難，也算是非常棘手的任務(wù)。這是因?yàn)槿绻麤]適 ...
  • 關(guān)鍵字： RF  模擬信號(hào)  數(shù)字信號(hào)  EMI測(cè)試  

R&S全面電磁兼容和射頻微波創(chuàng)新方案亮相首屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議

  • 由Microwave Journal 和《微波雜志》(Microwave Journal China)主辦的首屆電子設(shè)計(jì)創(chuàng)新會(huì)議(Electronic Design Innovation Conference，EDI CON 2013)將于2013年3月12日-14日在中國(guó)北京舉辦。
  • 關(guān)鍵字： 羅德  EMI測(cè)試  
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emi測(cè)試介紹

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