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瑞薩電子推出新型SiGe:C異質接面晶體管
- 2011年9月13日 日本東京訊—高級半導體廠商瑞薩電子株式會社(TSE:6723,以下簡稱“瑞薩電子”)宣布推出新款SiGe:C異質接面晶體管 (SiGe:C HBT, 注1)NESG7030M04,可作為低噪聲放大晶體管用于無線局域網(wǎng)絡系統(tǒng)、衛(wèi)星無線電及類似應用。本裝置的制程采用全新開發(fā)的硅鍺:碳(SiGe:C)材料 (注2) 并達到領先業(yè)界的低噪聲效能。
- 關鍵字: 瑞薩 晶體管 SiGe:C HBT
Ge組分對SiGe HBT主要電學特性的影響
- 0 引言 SiGe基區(qū)異質結雙極型晶體管(SiGe HBT)是利用SiGe合金特性制成的器件。自1987年采用MBE技術首次制作出SiGe基區(qū)HBT以來,SiGe集成電路的規(guī)模和電路的速度不斷發(fā)展,電流增益和頻率響應等性能已經(jīng)接近或達到了化合物異質結器件的水平。而SiGe異質結技術和傳統(tǒng)的Si集成電路相比,在工藝上并未增加大的復雜性,且成本低于化合物半導體器件。最新的SiGe HBT的研究表明已研制出超過200 GHz電流增益峰值達到400的晶體管,并且低溫下fT達到200 GHz的SiGeHBT也
- 關鍵字: HBT
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