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用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試

  • CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
  • 關(guān)鍵字： 2600    數(shù)字源表    IDDQ  

基于CMOS電路的IDDQ測試電路設(shè)計

  • 引言　　測試CMOS電路的方法有很多種，測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測試，即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路
  • 關(guān)鍵字： CMOS  IDDQ  電路  測試    

CMOS電路IDDQ測試電路設(shè)計

  • 摘要：針對CMOS集成電路的故障檢測，提出了一種簡單的IDDQ靜態(tài)電流測試方法，并對測試電路進(jìn)行了設(shè)計。所設(shè)計的IDDQ電流測試電路對CMOS被測電路進(jìn)行檢測，通過觀察測試電路輸出的高低電平可知被測電路是否存在物理缺
  • 關(guān)鍵字： 電路設(shè)計  測試  IDDQ  電路  CMOS  
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