首頁　 資訊　 商機 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> seu

基于FPGA的抗SEU存儲器的設計實現(xiàn)

  • 基于FPGA的抗SEU存儲器的設計實現(xiàn),O 引言隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可忽視
  • 關鍵字： 設計  實現(xiàn)  存儲器  SEU  FPGA  的抗  基于  

抗SEU存儲器的FPGA設計實現(xiàn)

  • 抗SEU存儲器的FPGA設計實現(xiàn),O 引言　　隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響不可
  • 關鍵字： 實現(xiàn)  設計  FPGA  存儲器  SEU  

抗SEU存儲器的設計的FPGA實現(xiàn)

  • 抗SEU存儲器的設計的FPGA實現(xiàn),　　O 引言　　隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展，衛(wèi)星的應用越來越廣泛。然而，太空環(huán)境復雜多變，其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子，它們對運行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應。輻射效應對電子器件的影響
  • 關鍵字： 實現(xiàn)  FPGA  設計  存儲器  SEU  

SEU的抑制

  • 　　引言 　　隨著工藝技術的迅速發(fā)展，創(chuàng)新進一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具優(yōu)勢。然而，技術的發(fā)展也突出了以前可以忽略的某些效應，例如，單事件干擾(SEU)導致的軟誤碼影響越來越大。通過仔細的IC設計，65nm節(jié)點單位比特的軟誤碼率有所下降，但是每一工藝節(jié)點的邏輯容量在不斷翻倍，配置RAM(CRAM)比特數(shù)量也隨之增長。 　　現(xiàn)在的FPGA容量越來越大，功能越來越強，逐漸擔負起系統(tǒng)的核心功能，例如數(shù)據(jù)通路等；因此，設計人員能夠將系統(tǒng)集成在一片可編程芯片中。這些發(fā)
  • 關鍵字： SEU  干擾率  
共4條 1/1 1

seu介紹

SEU是Single event upset的縮寫，中文譯為單粒子翻轉。是SEE的一種表現(xiàn)形式。 Single event upset (SEU) is defined by NASA as "radiation-inducederrors in microelectronic circuits caused when charged particles(usually from the rad [ 查看詳細 ]

熱門主題

樹莓派    linux   
關于我們 - 廣告服務 - 企業(yè)會員服務 - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473