首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> soc測試

基于新型MEMS開關(guān)提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出

  • 先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)測試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關(guān)如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導(dǎo)體市場在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進(jìn)的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
  • 關(guān)鍵字： MEMS開關(guān)  SoC測試  

應(yīng)用混合游程編碼的SOC測試數(shù)據(jù)壓縮方法

  • 提出了一種有效的基于游程編碼的測試數(shù)據(jù)壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應(yīng)解碼電路硬件開銷小的突出特點(diǎn). 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測試數(shù)據(jù)中不確定位的填充策略有很大的關(guān)系
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  數(shù)據(jù)壓縮  位填充  游程編碼  

采用可升級測試平臺迎接SoC測試的挑戰(zhàn)

  • 系統(tǒng)級芯片(SoC)現(xiàn)在是半導(dǎo)體業(yè)界一個(gè)很熱門的字眼，可以說是工程突破及新型應(yīng)用的同義詞。由于人們對消費(fèi)產(chǎn)...
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  可升級測試平臺  

SoC測試技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和發(fā)展趨勢

  • 中國是全球半導(dǎo)體市場成長最快的區(qū)域，預(yù)計(jì)每年增長率超過25%，原因在于中國已經(jīng)成為全球集成電路消費(fèi)的中心、...
  • 關(guān)鍵字： SoC測試  IC  上市時(shí)間  
共4條 1/1 1

soc測試介紹

您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條soc測試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對soc測試的理解，并與今后在此搜索soc測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473