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Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制

• 　　面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。 　　今天，越來越多的 IC(如顯卡芯片)需要針對(duì)DUT(受測(cè)元件)的中程功率耗散控制。對(duì)于多數(shù)此類應(yīng)用來說，大量投資于既定的ATC(主動(dòng)熱控)系統(tǒng)是不恰當(dāng)?shù)?。一些半?dǎo)體制造商試圖通過開發(fā)自己的專利解決方案來應(yīng)對(duì)該問題。但這種做法將其資源耗費(fèi)在并非其主營(yíng)業(yè)務(wù)的領(lǐng)域，實(shí)際上也沒有帶來真正“整體
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