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把握六點(diǎn)助你提高RF微波測(cè)試正確性

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： RF微波測(cè)試  正確性  DUT  量測(cè)儀器  

矢網(wǎng)Wiltron360B應(yīng)用在RF仿真中的

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
  • 關(guān)鍵字： 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀  Wiltron360B  DUT  射頻仿真  

Multitest的MT9510通過XTC實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展溫度控制

  • 　　面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座、測(cè)試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通過擴(kuò)展溫度校準(zhǔn)(XTC)功能實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)展溫度控制。 　
  • 關(guān)鍵字： Multitest  測(cè)試負(fù)載板  DUT  

DDS信號(hào)源在掃頻測(cè)試中的具體應(yīng)用

  • 電子設(shè)計(jì)中經(jīng)常碰到的問題是對(duì)待測(cè)電路(DUT)傳輸特性的測(cè)試，這里所說的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特...
  • 關(guān)鍵字： DDS信號(hào)源  掃頻測(cè)試  DUT  

如何降低測(cè)試系統(tǒng)開關(guān)噪聲(04-100)

  • 　　為測(cè)試電子和機(jī)電器件設(shè)計(jì)開關(guān)系統(tǒng)所遇到的問題和設(shè)計(jì)產(chǎn)品本身一樣多。隨著器件中高速邏輯的出現(xiàn)以及與更靈敏模擬電路的連接，使得降低測(cè)試開關(guān)系統(tǒng)中的噪聲比以前任何時(shí)候更加重要。 　　本文所述的噪聲降低技術(shù)準(zhǔn)則是針對(duì)信號(hào)頻率低于300MHz、電壓低于250V、電流小于5A和電壓乘赫茲積小于107。 　　任何新式測(cè)試系統(tǒng)都用很多信號(hào)和電源線來仿真和測(cè)量DUT(待測(cè)器件)，并有各種各樣的開關(guān)進(jìn)行自動(dòng)連接。通用測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示于圖1?？刂瓶偩€示于圖中左邊。模擬、數(shù)字和電源總線作為垂直線對(duì)示于不同子系統(tǒng)后面。
  • 關(guān)鍵字： 測(cè)試  噪聲  DUT  

沒有ATE生成向量的精密測(cè)試(04-100)

  • 　　消費(fèi)類電子產(chǎn)品正在變得更復(fù)雜和更快速，因而使得測(cè)試成本成為問題。大的和復(fù)雜的SoC往往是消費(fèi)類產(chǎn)品的心臟，不管它們的性能多么先進(jìn)，其成本必須是低的。 　　各種內(nèi)裝自測(cè)試(BIST)已應(yīng)用于測(cè)試DUT(被測(cè)器件)的內(nèi)部性能，導(dǎo)致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，F(xiàn)ibreChannel和Serial RapidIO)的全面測(cè)試。這些高速鏈路在計(jì)算、通信和音視頻娛樂前進(jìn)中是不可缺少的。 　　重視測(cè)試成本是一個(gè)重要的問題，設(shè)計(jì)人員已應(yīng)用BI
  • 關(guān)鍵字： BIST  DUT  
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