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NI推出了針對(duì)76-81 GHz汽車?yán)走_(dá)的ADAS測(cè)試解決方案

　　NI(美國(guó)國(guó)家儀器，National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日在European Microwave Week(EuMW) 2016上展示了全新的高級(jí)駕駛輔助系統(tǒng)(ADAS)測(cè)試解決方案。 ADAS測(cè)試解決方案基于NI mmWave前端技術(shù)和不久前發(fā)布的PXIe-5840第二代矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)，專為76-81GHz范圍內(nèi)的短程和遠(yuǎn)程雷達(dá)而設(shè)計(jì)。　　NI全球汽車項(xiàng)目副總裁Stefano Concezz
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模塊化儀器需求旺盛，是德科技提供更多選擇

　　近幾年，模塊化儀器在測(cè)試測(cè)量市場(chǎng)發(fā)展迅速，是德科技也在四年前進(jìn)入這個(gè)領(lǐng)域，這是不是意味著臺(tái)式儀器已經(jīng)走向衰退?模塊化儀器在未來(lái)會(huì)代替臺(tái)式儀器?是德科技中國(guó)區(qū)無(wú)線市場(chǎng)部經(jīng)理白瑛解釋，“是市場(chǎng)推動(dòng)了模塊化儀器的發(fā)展，但是臺(tái)式儀器有著更加精準(zhǔn)的測(cè)量參數(shù)，不會(huì)完全退出市場(chǎng)，它們兩者將在市場(chǎng)上長(zhǎng)期共存?！? 　　看好模塊化儀器的市場(chǎng)前景，客戶也有著強(qiáng)烈的需求，是德科技毅然進(jìn)入這一市場(chǎng)。經(jīng)過(guò)幾年發(fā)展，是德科技已經(jīng)從最初的幾款產(chǎn)品發(fā)展到到目前的150多個(gè)產(chǎn)品，2015年銷售額已經(jīng)達(dá)到1.5億
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使用LabVIEW和PXI進(jìn)行東海大橋結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)

東海大橋是中國(guó)第一座跨海大橋，我們?cè)谏厦媸褂昧硕鄠€(gè)PXI機(jī)箱組成的系統(tǒng)，以獲取追蹤大橋結(jié)構(gòu)完整性及當(dāng)前狀況的重要數(shù)據(jù)。借助于精確的GPS同步和時(shí)間標(biāo)識(shí)、NI PXI動(dòng)態(tài)信號(hào)采集硬件設(shè)備和LabVIEW軟件，我們的團(tuán)隊(duì)成
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智能型PXI Switch Module 在自動(dòng)化測(cè)控系統(tǒng)中的應(yīng)用

前言使用繼電器模塊(Relay Switch Module)做為信號(hào)切換，廣泛地應(yīng)用于IC測(cè)試、電力監(jiān)測(cè)管理、工業(yè)流程與交通控制領(lǐng)域近年來(lái)隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品走向多樣化，生命周期縮短，價(jià)格(Cost)、速度(Speed)、靈活性(Flexibili
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PXI在虛擬儀器的應(yīng)用

1 引言
PXI（PCI面向儀器的擴(kuò)展）是一個(gè)新的模塊化儀器平臺(tái)，它能夠提供高性能的測(cè)量，而價(jià)格并不十分昂貴。利用PXI模塊化儀器，您可以充分享受開放式工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化PC技術(shù)所帶來(lái)的低成本、簡(jiǎn)便易用性、靈活性及高
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一種USB接口的虛擬數(shù)據(jù)采集儀快速設(shè)計(jì)模板

摘要：為了快速開發(fā)性價(jià)比高的基于USB接口的虛擬數(shù)據(jù)采集儀，采用了NI-VISA和CH372芯片的方案搭建一個(gè)通用的模板，并以一個(gè)溫度信號(hào)的虛擬數(shù)據(jù)采集儀器的實(shí)例加以說(shuō)明。實(shí)驗(yàn)表明該模板降低了USB通信的復(fù)雜度，縮短了
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PXI技術(shù)最新發(fā)展與應(yīng)用

過(guò)去十五年以來(lái)，自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域出現(xiàn)了一些明顯的趨勢(shì)：從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每個(gè)階段，自動(dòng)化程度越來(lái)越高;單一的待測(cè)設(shè)備往往集成了多種的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議;從商業(yè)角度考慮，縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增;與此同時(shí)，著
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基于NI PXI模塊化儀器和LabVIEW實(shí)現(xiàn)自定義的功能電路測(cè)試系統(tǒng)

背景現(xiàn)代化電子工廠批量生產(chǎn)的PCB電路板，在最終打包出廠前，需要做電路功能測(cè)試(FCT)。在該功能測(cè)試應(yīng)用中，霍尼韋爾綜合科技(中國(guó))有限公司的工程師希望構(gòu)建一套完整的包含音頻、視頻及各種電壓、電流、頻率、開關(guān)
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PXI平臺(tái)簡(jiǎn)介與高速量測(cè)模塊同步之探討

前言隨著電子制造技術(shù)的日益發(fā)展，集成電路的功能變得越來(lái)越復(fù)雜，而體積卻越來(lái)越小，因此對(duì)制造測(cè)試電子元件的廠商而言，如何以最快的時(shí)間建造出最具競(jìng)爭(zhēng)力的測(cè)試平臺(tái)，的確是一門不小的學(xué)問(wèn)。1960年代末期，Hewlet
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在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI測(cè)試醫(yī)療血糖儀和胰島素輸送系統(tǒng)

NI的解決方案為此應(yīng)用帶來(lái)了許多益處。首先，NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺(tái)式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器，測(cè)試時(shí)間將會(huì)更長(zhǎng)。ndash; Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies
The Chal
關(guān)鍵字： TestStand LabVIEW PXI 生產(chǎn)環(huán)境

NI：軟件平臺(tái)才是真正顛覆的力量

　　在NIWeek 2016期間，《電子工程專輯》有幸專訪到Eric Starkloff，請(qǐng)他與我們分享分享軟體平臺(tái)如何改寫測(cè)試與量測(cè)以及工業(yè)控制等領(lǐng)域的游戲規(guī)則、促進(jìn)物聯(lián)網(wǎng)的進(jìn)展以及克服接踵而來(lái)的RF等挑戰(zhàn)... 　　隨著物聯(lián)網(wǎng)(IoT)擴(kuò)展至更多的關(guān)鍵應(yīng)用，基于軟體的開放平臺(tái)正成為監(jiān)測(cè)與控制關(guān)鍵基礎(chǔ)架構(gòu)的核心，并進(jìn)一步改變傳統(tǒng)的封閉式硬體架構(gòu)，朝向開放的用戶定義系統(tǒng)進(jìn)展。　　如今，“真正的力量就在于軟體!”國(guó)家儀器(National Instruments;NI)全球銷售
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NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)

NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。
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美國(guó)國(guó)家儀器亮相2016汽車測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)

　　NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，近日聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴共同亮相2016汽車測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)，集中展示了其在智能網(wǎng)聯(lián)汽車以及通用汽車測(cè)試領(lǐng)域的測(cè)試平臺(tái)及解決方案，為中國(guó)汽車生產(chǎn)制造走向智能化可持續(xù)發(fā)展之路提供靈活、可靠、開放的技術(shù)保障。　　根據(jù)國(guó)務(wù)院發(fā)展研究中心發(fā)布的《2016中國(guó)汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展報(bào)告》指出，中國(guó)汽車產(chǎn)業(yè)正經(jīng)歷創(chuàng)新式突破，智能化對(duì)中國(guó)汽車產(chǎn)業(yè)鏈已經(jīng)形成全
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NI宣布公司下一階段發(fā)展的CEO接班計(jì)劃

　　NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日宣布董事會(huì)已推選Alex Davern(49 歲)接替73歲高齡的James Truchard博士擔(dān)任首席執(zhí)行官兼董事長(zhǎng)，此決議自2017年1月1日生效。James Truchard博士自1976年NI成立之際便一直擔(dān)任NI首席執(zhí)行官，未來(lái)也將繼續(xù)擔(dān)任董事會(huì)主席。董事會(huì)計(jì)劃在2017年1月之前任命Davern為董事會(huì)成員。本次任命為“董
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NI STS增強(qiáng)了RF測(cè)量功能，進(jìn)一步降低半導(dǎo)體測(cè)試成本

　　作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)今日宣布為半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收發(fā)功率、以及基于FPGA的實(shí)時(shí)包絡(luò)跟蹤(Envelop Tracking)和數(shù)字預(yù)失真處理(Digital Pre-Distortion)。　　STS的其中一個(gè)最新改進(jìn)功能是高功率RF端口，可幫助RF前端模塊制造商滿足RFIC及其他智能設(shè)備不斷增加的測(cè)試需求，同時(shí)降低測(cè)試成本。
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