pxi-9820 文章 進(jìn)入pxi-9820技術(shù)社區(qū)
泛華測(cè)控推出PXI信號(hào)調(diào)理卡
- 經(jīng)過多年對(duì)各種數(shù)據(jù)信號(hào)采集市場(chǎng)的研究,北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱:泛華測(cè)控)深刻認(rèn)識(shí)到目前國(guó)內(nèi)市場(chǎng)數(shù)據(jù)信號(hào)的多樣性。針對(duì)此行業(yè)特點(diǎn),同時(shí)也為客戶提供更便利的測(cè)試操作系統(tǒng),泛華測(cè)控特推出了PXI信號(hào)調(diào)理卡系列中的小信號(hào)調(diào)理板卡—型號(hào):PXI-SS100。 泛華測(cè)控的PXI-SS100板卡專門針對(duì)輸入頻率小于10K的信號(hào),其具有的16路模擬信號(hào)放大功能將信號(hào)進(jìn)行程控放大,最大倍數(shù)可達(dá)1000倍,大大提高了數(shù)據(jù)采集的精確性;PXI-SS100板卡可以直接插入PXI機(jī)箱,與NI的
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NI與BAE Systems、Phase Matrix公司共同發(fā)布26.5GHz PXI 綜合測(cè)試儀
- 新聞發(fā)布——2008年10月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)與BAE Systems公司、Phase Matrix公司于近日共同發(fā)布了一款針對(duì)軍事和商業(yè)射頻/微波應(yīng)用的、基于PXI平臺(tái)的下一代26.5GHz綜合測(cè)試儀。這款綜合測(cè)試儀通過整合模塊化硬件與平臺(tái)軟件來創(chuàng)建用戶自定義的測(cè)試測(cè)量系統(tǒng),它屬于虛擬儀器的一個(gè)分支。新款綜合測(cè)試儀是以5個(gè)兼容3U PXI Express的射頻/微波下變頻模塊為基礎(chǔ)而設(shè)計(jì)的,它
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NI 推出最新1 GHz帶寬的PXI量化儀
- 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)近日推出NI PXI-5154量化儀/基于PC的示波器,大大增加了擁有20多個(gè)高端、高精度和高通道數(shù)的相關(guān)產(chǎn)品種類。具備雙通道的1 GHz PXI-5154量化儀可提供高達(dá)2 GS/s的實(shí)時(shí)采樣率(對(duì)于重復(fù)信號(hào),可達(dá)20 GS/s的等時(shí)采樣率),滿足了高速、接近納秒速率的信號(hào)采集。此外,該量化儀配有該類產(chǎn)品中最大的板載內(nèi)存——每通道存儲(chǔ)可高達(dá)250 MB, 并同時(shí)可以在拓展的數(shù)據(jù)采集窗口上提供穩(wěn)定的高采樣
- 關(guān)鍵字: NI 示波器 量化儀 PXI
泛華測(cè)控為汽車行業(yè)打造多工位、全自動(dòng)化的點(diǎn)火線圈測(cè)試系統(tǒng)
- 日前,由北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司研發(fā)并生產(chǎn)的全自動(dòng)化、多工位測(cè)試的汽車點(diǎn)火線圈測(cè)試系統(tǒng)已正式交付北京德爾福萬源發(fā)動(dòng)機(jī)管理系統(tǒng)有限公司。 該系統(tǒng)以柔性測(cè)試技術(shù)為核心理念,應(yīng)用模塊化、系統(tǒng)協(xié)調(diào)聯(lián)動(dòng)、高壓屏蔽等技術(shù),實(shí)現(xiàn)了點(diǎn)火線圈各項(xiàng)功能、電氣性能指標(biāo)的全面測(cè)試。除了屏蔽箱設(shè)計(jì)之外,測(cè)試系統(tǒng)的整個(gè)測(cè)試過程以及被測(cè)件的傳遞全部由機(jī)械手自動(dòng)完成,使測(cè)試與傳遞過程無需人工干預(yù),避免了由于人工操作錯(cuò)誤而造成的錯(cuò)檢或漏檢,大大提高了系統(tǒng)的測(cè)試可靠性。該系統(tǒng)由點(diǎn)火工位、通斷測(cè)試工位、性能測(cè)試工位、激光
- 關(guān)鍵字: 泛華測(cè)控 汽車 點(diǎn)火線圈 測(cè)試系統(tǒng) PXI PLC
PXISA組委會(huì)公開會(huì)議首次在中國(guó)舉辦,探求更多本土合作意向
- PXI系統(tǒng)聯(lián)盟(PXI Systems Alliance,簡(jiǎn)稱PXISA)聯(lián)合美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)和其它PXISA成員公司和本地各PXI產(chǎn)品供應(yīng)商的高層于2008年5月29日在北京國(guó)際飯店舉辦了PXISA組委會(huì)的公開會(huì)議,這是該規(guī)格會(huì)議首次在亞洲地區(qū)舉辦。 PXISA組織成立于1997年, 十多年來一直致力于推廣PXI標(biāo)準(zhǔn),確保PXI的互換性,并維護(hù)PXI規(guī)范。作為一個(gè)推廣和支持PXI的行業(yè)聯(lián)合會(huì),該組織的主要任務(wù)在于推廣PXI標(biāo)準(zhǔn)、確保
- 關(guān)鍵字: NI PXI 自動(dòng)化 測(cè)試
NI成功主辦第五屆 “中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”
- 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)宣布在中國(guó)地區(qū)成功主辦第五屆 “中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)。近600多位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場(chǎng)參加會(huì)議。除了主辦商N(yùn)I以外,十余家國(guó)內(nèi)外知名的PXI供應(yīng)商如 Aeroflex, Geotest, VPC, Pickering,ZTEC,凌華科技以及本地的北京中科泛華,上海聚星儀器,成都縱橫
- 關(guān)鍵字: NI PXI TAC 自動(dòng)化 測(cè)試
PXI Express將PXI平臺(tái)推向新應(yīng)用領(lǐng)域(圖)
- PXI Express將PXI平臺(tái)推向新應(yīng)用領(lǐng)域(圖),
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NI發(fā)布集成PXI監(jiān)視器和鍵盤附件
- 美國(guó)國(guó)家儀器中國(guó)有限公司近日發(fā)布了帶有集成鍵盤的NI PMA-1115便攜監(jiān)測(cè)器,該P(yáng)MA可以連接到NI的任何8槽或者PXI Express機(jī)箱。在PXI的不同應(yīng)用領(lǐng)域,該產(chǎn)品與PXI機(jī)箱的配合使用都非常理想,如汽車,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備以及航空航天和國(guó)防等產(chǎn)業(yè)中車輛測(cè)試,手機(jī)故障診斷和個(gè)人自動(dòng)測(cè)試執(zhí)行程序等應(yīng)用。 “在皇家荷蘭海軍中,PXI是國(guó)防應(yīng)用的自然選擇?!?Richard van der Weide說道,“我們需要使用獨(dú)立的NI LabVIEW和基于PXI的
- 關(guān)鍵字: NI PXI 觸摸屏
PXI Express:支持高性能混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)
- PXI Express的技術(shù)優(yōu)勢(shì) 由于PXI標(biāo)準(zhǔn)采用了PCIe技術(shù),PXI自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)提供了前所未有的高性能。在有些情況下,PXI儀器現(xiàn)在可以執(zhí)行一些迄今一直無法完成的測(cè)量。 PXI Express是由PXI擴(kuò)展所得。新型PXI Express機(jī)箱提供了支持PXI與PXI Express模塊協(xié)同工作于同一系統(tǒng)的混合兼容的插槽。所以
- 關(guān)鍵字: PXI Express PCIe技術(shù)
PXI在重離子加速器-冷卻存儲(chǔ)環(huán)控制系統(tǒng)的應(yīng)用(04-100)
- HIRFL-CSR工程 蘭州近代物理所HIRFL-CSR(重離子加速器-冷卻存儲(chǔ)環(huán))工程是國(guó)家九五重點(diǎn)國(guó)家重大科學(xué)工程。HIRFL-CSR是一個(gè)集加速、累積、冷卻 、儲(chǔ)存、內(nèi)靶實(shí)驗(yàn)及高分辨測(cè)量于一體的多功能實(shí)驗(yàn)裝置。 蘭州近代物理所HIRFL-CSR包括:主環(huán)(CSRm)、實(shí)驗(yàn)環(huán)(CSRe)、束運(yùn)線、放射性束(RIB)分離器、實(shí)驗(yàn)探測(cè)裝置。主環(huán)周長(zhǎng)161米,最高加速能量為900MeV/u(12C6+)和400MeV/u(238U72+),試驗(yàn)環(huán)周長(zhǎng)129米,最大接收能量為600MeV/u
- 關(guān)鍵字: PXI 重離子加速器 冷卻存儲(chǔ)環(huán)控制系統(tǒng)
PXI模塊在調(diào)試和測(cè)試移動(dòng)電話特性中的應(yīng)用
- 引言 測(cè)試是成本中應(yīng)避免的支出。移動(dòng)電話的生產(chǎn)測(cè)試成本可能會(huì)占項(xiàng)目總成本較大的一部分。在移動(dòng)電話測(cè)試中,決定其參數(shù)和功能測(cè)試的程度是相當(dāng)復(fù)雜的,必須對(duì)生產(chǎn)線變化以及在測(cè)試過程和設(shè)計(jì)成熟時(shí)加以評(píng)估。以調(diào)試為目的進(jìn)行的測(cè)試與其它測(cè)試略有差別,調(diào)試在生產(chǎn)過程中是重要的增值步驟,而不單只是驗(yàn)證過程。調(diào)試的需求直接與器件的設(shè)計(jì)相關(guān),在此階段采用PXI模塊儀器有助于改進(jìn)生產(chǎn)率和降低對(duì)功能測(cè)試的要求。 生產(chǎn)測(cè)試過程 印刷電路板(PCB)生產(chǎn)和手機(jī)生產(chǎn)是兩個(gè)分開的制程。測(cè)試過程是從PCB生產(chǎn)線已裝滿
- 關(guān)鍵字: 模塊儀器 VXI PXI 移動(dòng)電話
PXI射頻模塊儀表在手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試上的應(yīng)用
- 如今的手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試面臨越來越復(fù)雜的環(huán)境,一邊是多種頻段和多制式的挑戰(zhàn),一邊是生產(chǎn)測(cè)試速度的壓力,同時(shí)還面臨測(cè)試成本的壓力。確定手機(jī)射頻參數(shù)和功能檢驗(yàn)測(cè)試的合適的深度和廣度是比較復(fù)雜的,它需要我們隨著生產(chǎn)線的變化,產(chǎn)品本身的成熟度的提升不斷尋找平衡點(diǎn)。射頻校準(zhǔn)在整個(gè)生產(chǎn)流程中,它是一個(gè)增加產(chǎn)品價(jià)值的步驟,它的測(cè)試要求直接與產(chǎn)品的設(shè)計(jì)有關(guān)。 生產(chǎn)測(cè)試流程 這里的生產(chǎn)測(cè)試不包括PCB(印刷電路板)生產(chǎn),當(dāng)PCB投入到手機(jī)組裝線上時(shí),生產(chǎn)測(cè)試流程開始,由此手機(jī)將經(jīng)歷5個(gè)操作步驟: &midd
- 關(guān)鍵字: PXI,射頻模塊儀表
基于Labview & PXI的發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊測(cè)試
- 介紹:發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊作為汽車傳動(dòng)力控制的核心部件,其生產(chǎn)質(zhì)量檢測(cè)是保證整個(gè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程完整的重要步驟。為了模擬發(fā)動(dòng)機(jī)特定的實(shí)際工作狀況,需要在同一系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多輸入輸出信號(hào)的集成控制和采集。為此,我們使用NI公司的基于PXI總線及其部件的硬件平臺(tái),配以虛擬儀器技術(shù)LabVIEW開發(fā)的軟件控制系統(tǒng),設(shè)計(jì)了一套高度集成,穩(wěn)定可靠的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)由PXI測(cè)試儀,配線板,信號(hào)調(diào)理及通訊板,電源,負(fù)載箱,測(cè)試夾具組成。測(cè)試時(shí)操作員將模塊放入夾具后,掃描條碼后開始自動(dòng)測(cè)試。根據(jù)不同的車型編寫配置文件,完成對(duì)康
- 關(guān)鍵字: Labview , PXI,發(fā)動(dòng)機(jī)管理模塊
基于LabVIEW和PXI的轉(zhuǎn)向架測(cè)試平臺(tái)
- 在城市軌道車輛轉(zhuǎn)向架測(cè)試中,需要測(cè)量大量的應(yīng)變、電壓和加速度等信號(hào),這不僅要求數(shù)據(jù)的高速實(shí)時(shí)采集而且也要設(shè)備具有很高的穩(wěn)定性和可靠性。使用美國(guó)National Instruments 高效可靠的PXI 總線設(shè)備和LabVIEW 快速圖形開發(fā)環(huán)境,快速建立起的多功能轉(zhuǎn)向架測(cè)試平臺(tái)。實(shí)踐應(yīng)用證明,完全達(dá)到了系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)的各項(xiàng)要求。
- 關(guān)鍵字: LabVIEW,PXI,測(cè)試平臺(tái)
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