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如何避免LLC諧振轉換器中的MOSFET出現(xiàn)故障
- 為了降低能源成本,設備設計人員正在不斷尋找優(yōu)化功率密度的新方法。通常情況下,電源設計人員通過增大開關頻率來降低功耗和縮小系統(tǒng)尺寸。由于具有諸多優(yōu)勢如寬輸出調節(jié)范圍、窄開關頻率范圍以及甚至在空載情況下都能保證零電壓開關,LLC 諧振轉換器應用越來越普遍。但是,功率 MOSFET 出現(xiàn)故障一直是LLC 諧振轉換器中存在的一個問題。在本文中,我們將闡述如何避免這些情況下出現(xiàn)MOSFET 故障。 初級 MOSFET 的不良體二極管性能可能導致一些意想不到的系統(tǒng)或器件故障,如在各種異常條件下發(fā)生嚴重的直通
- 關鍵字: 諧振轉換器 MOSFET
完全自保護MOSFET功率器件分析
- 為了提高系統(tǒng)可靠性并降低保修成本,設計人員在功率器件中加入故障保護電路,以免器件發(fā)生故障,避免對電子系統(tǒng)造成高代價的損害。這通常利用外部傳感器、分立電路和軟件來實現(xiàn),但是在更多情況下,設計人員使用完全自保護的MOSFET功率器件來完成?! D1顯示了完全自保護MOSFET的一般拓撲結構。這些器件常見的其他特性包括狀態(tài)指示、數(shù)字輸入、差分輸入和過壓及欠壓切斷。高端配置包括片上電荷泵功能。但是,大多數(shù)器件都具備三個電路模塊,即電流限制、溫度限制和漏-源過壓箝制,為器件提供大部分的保護?! ?nbsp;&n
- 關鍵字: MOSFET 功率器件
同步降壓 MOSFET 電阻比的正確選擇
- 進行這種折中處理可得到一個用于 FET 選擇的非常有用的起始點。通常,作為設計過程的一個組成部分,你會有一套包括了輸入電壓范圍和期望輸出電壓的規(guī)范,并且需要選擇一些 FET。另外,如果你是一名 IC 設計人員,你還會有一定的預算,其規(guī)定了 FET 成本或者封裝尺寸。這兩種輸入會幫助您選擇總 MOSFET 芯片面積。之后,這些輸入可用于對各個 FET 面積進行效率方面的優(yōu)化。 圖 1 傳導損耗與 FET 電阻比和占空比相關 首先,F(xiàn)ET 電阻與其面積成反比例關系。
- 關鍵字: MOSFET
看懂MOSFET數(shù)據(jù)表,第5部分—開關參數(shù)
- 最后,我們來到了這個試圖破解功率MOSFET數(shù)據(jù)表的“看懂MOSFET數(shù)據(jù)表”博客系列的收尾部分。在這個博客中,我們將花時間看一看MOSFET數(shù)據(jù)表中出現(xiàn)的某些其它混合開關參數(shù),并且檢查它們對于總體器件性能的相關性(或者與器件性能沒什么關系)。 另一方面,諸如FET固有體二極管的輸出電荷 (QOSS) 和反向恢復電荷(Qrr) 等開關參數(shù)是造成很多高頻電源應用中大部分FET開關損耗的關鍵因素。不好意思,我說的這些聽起來有點兒前言不搭后語,不過設計人員在根據(jù)這些參數(shù)比較不同
- 關鍵字: MOSFET 二極管
估算熱插拔 MOSFET 的瞬態(tài)溫升——第 1 部分
- 在本文中,我們將研究一種估算熱插拔 MOSFET 溫升的簡單方法?! 岵灏坞娐酚糜趯㈦娙葺斎朐O備插入通電的電壓總線時限制浪涌電流。這樣做的目的是防止總線電壓下降以及連接設備運行中斷。通過使用一個串聯(lián)組件逐漸延長新連接電容負載的充電時間,熱插拔器件可以完成這項工作。結果,該串聯(lián)組件具有巨大的損耗,并在充電事件發(fā)生期間產(chǎn)生溫升。大多數(shù)熱插拔設備的制造廠商都建議您查閱安全工作區(qū)域 (SOA) 曲線,以便設備免受過應力損害。圖 1 所示
- 關鍵字: MOSFET
看懂MOSFET數(shù)據(jù)表,第2部分—連續(xù)電流額定值
- 今天我們來談一談MOSFET電流額定值,以及它們是如何變得不真實的。好,也許一個比較好的解釋就是這些額定值不是用確定RDS(ON)?和柵極電荷等參數(shù)的方法測量出來的,而是被計算出來的,并且有很多種不同的方法可以獲得這些值?! ±?,大多數(shù)部件中都有FET“封裝電流額定值”,這個值同與周圍環(huán)境無關,并且是硅芯片與塑料封裝之間內在連接線的一個函數(shù)。超過這個值不會立即對FET造成損壞,而在這個限值以上長時間使用將開始減少器件的使用壽命。高于這個限值的故障機制包括但不限于線路融合、成型復合材料的熱降
- 關鍵字: MOSFET
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