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基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

  • 挑戰(zhàn)：通過PXI 控制板卡和LabVIEW軟件，構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測(cè)試(FCT)系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)（電壓、電流、頻率）的綜合性全自動(dòng)測(cè)試，對(duì)于新開發(fā)生產(chǎn)的PCB板，工廠無需頻
  • 關(guān)鍵字： Functional  LabVIEW  Circuit  Test    

科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award

  • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測(cè)試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 關(guān)鍵字： Award  Best  in  Test  測(cè)試與測(cè)量世界  科利登  測(cè)試測(cè)量  
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