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RFID被動(dòng)式電子標(biāo)簽制程良率探討

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40納米良率大降 張忠謀:4Q一定解決

  •   近期半導(dǎo)體業(yè)界再度傳出臺(tái)積電40納米制程良率大降至40%,導(dǎo)致繪圖芯片大客戶恩威迪亞(NVIDIA)、超微(AMD)出貨計(jì)畫順延,臺(tái)積電董事長(zhǎng)張忠謀29日對(duì)此證實(shí)指出,臺(tái)積電40納米制程確實(shí)遇到設(shè)備腔體接合(chamber matching)問題,恐影響臺(tái)積電第4季毛利率約2個(gè)百分點(diǎn),但張忠謀信心滿滿地保證,新的問題可在第4季解決,2009年底40納米制程占營(yíng)收比重將達(dá)10%。此外,臺(tái)積電亦調(diào)高2009年資本支出至27億美元,強(qiáng)化投資力道。   盡管目前臺(tái)積電40納米制程已占單季營(yíng)收比重4%,是晶圓
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臺(tái)積電40nm制程良率再遇麻煩,一度降至40%

  •   臺(tái)積電40nm制程良率最近似乎又遇到了麻煩,據(jù)臺(tái)積電公司的主席張忠謀稱,10月初開始該公司40nm制程的良率降至40%左右,公司計(jì)劃于年底前解決 這次良率下降的問題。由于這次良率下降事件發(fā)生的時(shí)間段與AMD HD5800/5700系列以及Nvidia Fermi架構(gòu)顯卡上市熱賣的時(shí)間段重合,因此預(yù)計(jì)市場(chǎng)上的有關(guān)顯卡產(chǎn)品的供貨可能會(huì)受到一定的影響。   近幾個(gè)月以來有關(guān)臺(tái)積電40nm制程良率的負(fù)面新聞一直不絕于耳,在7月份的2009股東會(huì)議上,臺(tái)積電主席張忠謀曾透露稱其40nm制程的良率相比二季度已經(jīng)
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制程良率介紹

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