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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 功耗分析

SoC設(shè)計(jì)流程中的功耗管理

  • 如果不考慮功率問(wèn)題，會(huì)導(dǎo)致器件性能低于預(yù)期，進(jìn)而使得器件良率下降。此外，較高的功耗會(huì)要求在溫度管理方面采取更多的系統(tǒng)級(jí)措施?？偠灾?，這些功率問(wèn)題正在造成SoC和系統(tǒng)成本的增加。在SoC設(shè)計(jì)流程中進(jìn)行功耗管理，能夠有效控制這些成本。
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突破性新工具助力實(shí)現(xiàn)電池更長(zhǎng)的充電間隔時(shí)間

  • 　　目前，我們使用的每種電子設(shè)備幾乎都存在一個(gè)最令人關(guān)注的問(wèn)題，那就是其供電能力。我們希望自己的智能手機(jī)、電腦、電動(dòng)工具和可穿戴健身設(shè)備的功耗更低，從而延長(zhǎng)它們的續(xù)航時(shí)間。正是出于這個(gè)原因，德州儀器(TI)為那些在其電子產(chǎn)品中采用了TI MSP430?微控制器(MCU)的工程師們推出了能確切知道設(shè)備哪些地方耗電以及如何耗電的新技術(shù)?！　∵@項(xiàng)新技術(shù)被稱(chēng)為EnergyTrace++?，是一種功耗分析系統(tǒng)。一般來(lái)說(shuō)，工程師在運(yùn)行其設(shè)備的MCU中查找“漏洞”需要花費(fèi)很多時(shí)間。在運(yùn)行系統(tǒng)的軟件中，這些漏洞或微小的誤
  • 關(guān)鍵字： 電池  充電  EnergyTrace  功耗分析  

一種針對(duì)DES密碼芯片的CPA攻擊仿真設(shè)計(jì)方案

  • 摘要：為研究密碼芯片抗功耗分析性能，構(gòu)造了一個(gè)功耗分析研究平臺(tái)，結(jié)合DES算法在平臺(tái)上進(jìn)行了相關(guān)性功耗...
  • 關(guān)鍵字： 功耗分析  仿真平臺(tái)  DES  密碼芯片  

利用Astro-Rail分析FFT芯片的功耗和電源完整性

  • 摘要：本文介紹如何使用Synopsys公司的Astro-Rail工具對(duì)采用SMIC 0.18mm CMOS工藝、已完成布局布線的FFT芯片進(jìn)行功耗分析、電壓降分析和電遷移分析。通過(guò)在電壓降圖和電遷移圖中用不同的顏色來(lái)顯示不同區(qū)域的電壓降和電遷移情況，可判斷出最有可能出現(xiàn)問(wèn)題的區(qū)域。文中利用功耗分析證明了電源和地PAD對(duì)的數(shù)目符合要求，利用電壓降分析和電遷移圖證明了電源環(huán)和電源條的布置符合工藝要求。關(guān)鍵詞：快速傅立葉變換；集成電路；功耗分析；電壓降；電遷移 引言Astro-Rail工具為芯片設(shè)計(jì)提供了在設(shè)
  • 關(guān)鍵字： 嵌入式系統(tǒng)  單片機(jī)  快速傅立葉變換  集成電路  功耗分析  電壓降  電源  
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功耗分析介紹

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