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抗振晶體振蕩器相位噪聲測(cè)試方法的對(duì)比研究

  • 摘要 目前電子系統(tǒng)都要求對(duì)晶體振蕩器進(jìn)行振動(dòng)狀態(tài)下相位噪聲測(cè)試。但對(duì)于抗振晶體振蕩器，按照常規(guī)相位噪聲測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試時(shí)其結(jié)果有可能不正常。文中分析了抗振晶體振蕩器振動(dòng)狀態(tài)下的相位噪聲及測(cè)試方法，通過(guò)
  • 關(guān)鍵字： 晶體振蕩器  相位噪聲  抗振  振動(dòng)  
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抗振介紹

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