首頁(yè)　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問(wèn)答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 早期失效

光電耦合器(OCEP)早期故障的可靠性研究及應(yīng)用

  • 通過(guò)對(duì)大量失效光耦分析研究，失效現(xiàn)象集中在早期，問(wèn)題統(tǒng)一。結(jié)合光耦失效樣品的失效現(xiàn)象、失效原理、及失效機(jī)理分析，從金線(xiàn)綁定異常、內(nèi)部殘留金屬異物、漏打膠、晶片污染方面研究光耦的可靠性，發(fā)現(xiàn)主要失效是早期產(chǎn)品加工存在異常缺陷導(dǎo)致，產(chǎn)品在投入使用后短期內(nèi)反饋異常。通過(guò)對(duì)制程的優(yōu)化改進(jìn)，如提升自動(dòng)化制造、檢測(cè)能力，不斷優(yōu)化改進(jìn)制程，提升光耦制造流程可靠性，保證產(chǎn)品可靠性。
  • 關(guān)鍵字： 光耦  早期失效  金線(xiàn)綁定  金屬異物  漏打膠  晶片污染  202202  

關(guān)于電動(dòng)自行車(chē)VRLA電池失效的非制造原因

共2條 1/1 1

早期失效介紹

您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條早期失效!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)早期失效的理解，并與今后在此搜索早期失效的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門(mén)主題

樹(shù)莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473