首頁　 資訊　 商機(jī) 　 下載　 拆解 　 高校　 招聘 　 雜志　 會(huì)展　 EETV　 百科 　 問答　 電路圖　 工程師手冊(cè) 　 Datasheet　 100例 　 活動(dòng)中心　 E周刊閱讀 　 樣片申請(qǐng)
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 泰克公司（tektronix）

下一代半導(dǎo)體氧化鎵器件光電探測器應(yīng)用與測試

  • _____氧化鎵（Ga2O3）探測器是一種基于超寬禁帶半導(dǎo)體材料的光電探測器，主要用于日盲紫外光的探測。其獨(dú)特的物理化學(xué)特性使其在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域中展現(xiàn)出廣泛的前景。探測器性能由于材料不同、結(jié)構(gòu)不同、制備工藝以及應(yīng)用場景的不同的區(qū)別會(huì)有較大的性能差異。而性能指標(biāo)之間往往存在制約，例如暗電流和輸出電流、靈敏度和響應(yīng)度、可靠性和靈敏度等需要權(quán)衡和折中。對(duì)于性能表征也是如此，高響應(yīng)度一定無法和高精度電流表征同時(shí)進(jìn)行。Tektronix提供了多種性能、架構(gòu)的測試儀器儀表，滿足探測器在不同極限維度下測試的需求。氧化鎵的
  • 關(guān)鍵字： 氧化鎵  Ga2O3  氧化鎵探測器  光電探測器  泰克  Tektronix  

PCI Express發(fā)射器一致性/調(diào)試解決方案

  • _____PCI-SIG 6.0規(guī)范引入了PAM4信號(hào)，旨在在保持NRZ信號(hào)向后兼容的同時(shí)實(shí)現(xiàn)64GT/s。多級(jí)（PAM4）方法為采用者和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)帶來了新的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。Tektronix的PCI Express 6.0軟件通過自動(dòng)化測試來減少這種新復(fù)雜性，確保測量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。Tektronix的PCE6 (Gen6)選項(xiàng)、PCE5 (Gen5)選項(xiàng)、PCE4 (Gen4)選項(xiàng)和PCE3 (Gen 1/2/3)選項(xiàng)應(yīng)用程序?yàn)镻CI Express發(fā)射機(jī)和參考時(shí)鐘符合性測試以及根據(jù)PCI-SIG?
  • 關(guān)鍵字： PCI Express發(fā)射器  調(diào)試  Tektronix  

用混合信號(hào)示波器識(shí)別建立和保持時(shí)間違規(guī)

  • _____信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系對(duì)數(shù)字設(shè)計(jì)的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。對(duì)于同步設(shè)計(jì)，時(shí)鐘信號(hào)相對(duì)于數(shù)據(jù)信號(hào)的時(shí)間尤為重要。使用混合信號(hào)示波器，可以輕松確定多個(gè)邏輯輸入和時(shí)鐘信號(hào)之間的時(shí)間關(guān)系。建立和保持時(shí)間觸發(fā)器自動(dòng)確定時(shí)鐘與數(shù)據(jù)時(shí)間關(guān)系。建立時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之前，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。保持時(shí)間是指在有效時(shí)鐘邊緣發(fā)生之后，輸入數(shù)據(jù)信號(hào)保持穩(wěn)定（高或低）的時(shí)間。同步器件（如觸發(fā)器）的元件數(shù)據(jù)手冊(cè)中規(guī)定了設(shè)置和保持時(shí)間。必須滿足設(shè)置和保持時(shí)間的要求，才能確保元件能夠正確可靠地工作?；旌闲盘?hào)示波器
  • 關(guān)鍵字： 混合信號(hào)示波器  MSO  時(shí)間違規(guī)  Tektronix  

MOSFET器件的高壓CV測試詳解

  • _____MOSFET、IGBT和BJT等半導(dǎo)體器件的開關(guān)速度受到元件本身的電容的影響。為了滿足電路的效率，設(shè)計(jì)者需要知道這些參數(shù)。例如，設(shè)計(jì)一個(gè)高效的開關(guān)電源將要求設(shè)計(jì)者知道設(shè)備的電容，因?yàn)檫@將影響開關(guān)速度，從而影響效率。這些信息通常在MOSFET的指標(biāo)說明書中提供。圖1 功率MOSFET的組件級(jí)電容三端功率半導(dǎo)體器件的電容可以在兩種不同的量級(jí)上看待：組件和電路。在組件上查看電容涉及到表征每個(gè)設(shè)備終端之間的電容。在電路上觀察電容涉及到描述組件級(jí)電容的組合。例如，圖1說明了一個(gè)功率MOSFET的組件級(jí)電容
  • 關(guān)鍵字： MOSFET器件  高壓CV測試  Tektronix  泰克  

延時(shí)校準(zhǔn)、脈沖測試一定要做的事兒！

  • 進(jìn)行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導(dǎo)體的開關(guān)特性，可以說它伴隨著功率器件從研發(fā)制造到應(yīng)用的整個(gè)生命周期?；陔p脈沖測試獲得的器件開關(guān)波形可以做很多事情，包括：通過對(duì)開關(guān)過程的分析驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)方案并提出改進(jìn)方向、提取開關(guān)特征參數(shù)制作器件規(guī)格書、計(jì)算開關(guān)損耗和反向恢復(fù)損耗為電源熱設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支撐、不同廠商器件開關(guān)特性的對(duì)比等。測量延時(shí)的影響被測信號(hào)在測量過程中會(huì)經(jīng)歷兩次延時(shí)，不同信號(hào)所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì)對(duì)測量結(jié)果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí)，索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級(jí)別，對(duì)于
  • 關(guān)鍵字： Tektronix  延時(shí)校準(zhǔn)  脈沖測試  

SiC MOSFET驅(qū)動(dòng)電壓測試結(jié)果離譜的六大原因

  • _____開關(guān)特性是功率半導(dǎo)體開關(guān)器件最重要的特性之一，由器件在開關(guān)過程中的驅(qū)動(dòng)電壓、端電壓、端電流表示。一般在進(jìn)行器件評(píng)估時(shí)可以采用雙脈沖測試，而在電路設(shè)計(jì)時(shí)直接測量在運(yùn)行中的變換器上的器件波形，為了得到正確的結(jié)論，獲得精準(zhǔn)的開關(guān)過程波形至關(guān)重要。SiC MOSFET相較于 Si MOS 和 IGBT 能夠顯著提高變換器的效率和功率密度，同時(shí)還能夠降低系統(tǒng)成本，受到廣大電源工程師的青睞，越來越多的功率變換器采用基于 SiC MOSFET 的方案。SiC MOSFET 與 Si 開關(guān)器件的一個(gè)重要區(qū)別是它
  • 關(guān)鍵字： Tektronix  SiC  MOSFET  

【AFG專題系列72變】之四：磁共振成像我搞定

  • _____磁共振成像是一種使用磁場及射頻脈沖進(jìn)行的特殊檢查，安全、準(zhǔn)確、無創(chuàng)傷、對(duì)人體無害，因此，在醫(yī)療行業(yè)上被廣泛的應(yīng)用。要完成磁共振掃描并且得到圖像需要一個(gè)非常復(fù)雜的磁共振成像系統(tǒng)，而該系統(tǒng)主要由以下幾個(gè)部分組成，包括：磁體系統(tǒng)、射頻系統(tǒng)、梯度系統(tǒng)、接收線圈及其他計(jì)算機(jī)輔助系統(tǒng)。射頻系統(tǒng)主要由射頻線圈、射頻發(fā)生器、射頻放大器組成，主要的作用是發(fā)射能夠激發(fā)成像區(qū)域的射頻脈沖。梯度切換率Slew Rate是描述梯度場變化快慢的一個(gè)指標(biāo)，表示單位時(shí)間內(nèi)梯度場強(qiáng)的變化量，它的單位是mT/m/s，也反映了梯度場
  • 關(guān)鍵字： 核磁共振  醫(yī)療  任意波形函數(shù)發(fā)生器  Tektronix  

e絡(luò)盟發(fā)售Tektronix AFG31000任意函數(shù)發(fā)生器

  • 　　全球電子元器件與開發(fā)服務(wù)分銷商e絡(luò)盟現(xiàn)在備有 Tektronix AFG31000 任意函數(shù)發(fā)生器。這款行業(yè)一流的波形發(fā)生平臺(tái)旨在滿足整個(gè)產(chǎn)品運(yùn)行過程中，對(duì)性能和多功能性的最嚴(yán)苛要求?！　∪?AFG31000 系列融合了四個(gè)行業(yè)第一，為研究人員和工程師帶來前所未有的用戶體驗(yàn)：　　9 英寸電容式觸摸顯示屏和簡化的菜單方便用戶更快地查找和更改設(shè)置，同時(shí)便于瀏覽?！　∧軌蚴褂肐nstaView?實(shí)時(shí)監(jiān)控被測設(shè)備上生成的波形。當(dāng)信號(hào)從 AFG31000 輸出到被測電路中的測試點(diǎn)時(shí)，通過實(shí)時(shí)驗(yàn)證生成的波形圖，
  • 關(guān)鍵字： Tektronix，AFG31000  

MIPI促使移動(dòng)應(yīng)用設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與測試更高效

  • 移動(dòng)多媒體領(lǐng)域的開發(fā)人員正努力應(yīng)對(duì)行業(yè)飛速發(fā)展所帶來的巨大機(jī)遇與挑戰(zhàn)。日前，由MIPI聯(lián)盟重要成員Cadence和泰克(Tektronix)聯(lián)合舉辦的MIPI(Mobile
  • 關(guān)鍵字： MIPI  Cadence  Tektronix  

使用精密測量電源進(jìn)行內(nèi)阻測試和電容量測試

  • 使用精密測量電源進(jìn)行內(nèi)阻測試和電容量測試-精密測量電源在提供穩(wěn)定供電之余，還可以進(jìn)行高精度的電壓電流測量，因此可以用于完成多種相關(guān)參數(shù)的測試。
  • 關(guān)鍵字： 泰克公司  電源測試  2280S  

低功耗待測器件實(shí)現(xiàn)高精度低電流測量兩種方式

  • 低功耗待測器件實(shí)現(xiàn)高精度低電流測量兩種方式-本文探討了對(duì)低功耗待測器件（DUT）進(jìn)行低電流測量的兩種不同方法：一是將電源、高精度數(shù)字多用表及待測器件進(jìn)行串聯(lián)，二是使用高精度測量電源。應(yīng)用筆記詳細(xì)介紹了怎樣配置2280S系列高進(jìn)度測量直流電源，實(shí)現(xiàn)高精度低電流測量。
  • 關(guān)鍵字： 泰克公司  電源測試  2280S  

輕松通過WLAN發(fā)射機(jī)預(yù)一致性測試須知

  • 輕松通過WLAN發(fā)射機(jī)預(yù)一致性測試須知-盡管使用無線模塊消除了許多技術(shù)問題，但還需要做許多決策。最關(guān)鍵、也是最棘手的任務(wù)是確保最終產(chǎn)品滿足復(fù)雜的FCC和國際法規(guī)要求。一致性測試是窮盡式測試，耗費(fèi)時(shí)間長，在產(chǎn)品開發(fā)的這個(gè)階段測試失敗可能會(huì)導(dǎo)致昂貴的重新設(shè)計(jì)及耽誤產(chǎn)品推出。
  • 關(guān)鍵字： 預(yù)一致性測試  WLAN  泰克公司  

打造貼近萬物互聯(lián)時(shí)代的測試儀器

  • 沉舟側(cè)畔千帆過，對(duì)于飛速發(fā)展的電子信息產(chǎn)業(yè)來說，變化才是永恒不變的發(fā)展主題，一家企業(yè)越是領(lǐng)先于競爭者，就越要不斷抓住市場的變化趨勢，從而保持領(lǐng)先優(yōu)勢不被對(duì)手超越。對(duì)于一直定義著示波器標(biāo)準(zhǔn)的泰克科技來說，面對(duì)測試市場客戶需求的變化，需要全面調(diào)整自己的產(chǎn)品研發(fā)策略。近日，筆者專訪了泰克科技總裁 Pat Byrne，請(qǐng)他暢談泰克科技如何進(jìn)行企業(yè)的戰(zhàn)略全面轉(zhuǎn)型。從被丹納赫集團(tuán)收購之后，泰克科技經(jīng)歷了很多變化，可以說Pat Byrne上任之后，憑借他對(duì)測試儀器更深厚的職業(yè)經(jīng)歷，帶領(lǐng)泰克科技開始全面的企業(yè)戰(zhàn)略調(diào)整，即
  • 關(guān)鍵字： 示波器  tektronix  泰克科技  

東方集成榮獲泰克公司2013年度多項(xiàng)大獎(jiǎng)

  • 2014年2月17日全球領(lǐng)先的測試、測量和監(jiān)測解決方案提供商美國泰克公司(Tektronix)在深圳金茂JW萬豪酒店隆重召開了主題為“齊心協(xié)力，創(chuàng)新共贏”的年會(huì)。遍布全國各地的泰克合作伙伴們聚集于此，北京東方中科集成科技股份有限公司(以下簡稱"東方集成")作為泰克分銷領(lǐng)域的重要合作伙伴參加了此次盛會(huì)。
  • 關(guān)鍵字： 東方集成  Tektronix  SME  

泰克公司在集成方面實(shí)現(xiàn)重大突破

  • 全球示波器市場的領(lǐng)導(dǎo)廠商---泰克公司日前宣布，推出MDO3000系列混合域示波器。作為包括頻譜分析儀、邏輯分析...
  • 關(guān)鍵字： 泰克公司  示波器    分析儀    
共52條 1/4 1 2 3 4 »
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會(huì)員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473