首頁  資訊  商機(jī)   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 的抗

基于FPGA的抗SEU存儲器的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

  • 基于FPGA的抗SEU存儲器的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn),O 引言隨著我國航空航天事業(yè)的迅猛發(fā)展,衛(wèi)星的應(yīng)用越來越廣泛。然而,太空環(huán)境復(fù)雜多變,其中存在著各種宇宙射線與高能帶電粒子,它們對運(yùn)行于其中的電子器件會產(chǎn)生各種輻射效應(yīng)。輻射效應(yīng)對電子器件的影響不可忽視
  • 關(guān)鍵字: 設(shè)計(jì)  實(shí)現(xiàn)  存儲器  SEU  FPGA  的抗  基于  
共1條 1/1 1
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473