- 互操作測試(IOT)是多廠商運營環(huán)境形成的技術(shù)基礎(chǔ)。只有完成Iu接口的互操作測試,才能保證不同廠家的無線接入網(wǎng)與核心網(wǎng)的互聯(lián)互通,也只有完成Uu接口的互操作測試,才能保證每一款手機(jī)與無線接入系統(tǒng)之間的互聯(lián)互通
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操作 測試 3G 有效 進(jìn)行 真正 如何
- 用M-LVDS實現(xiàn)真正多點接口總線,多年來,業(yè)界已開發(fā)出多種成熟的技術(shù)用于在背板總線上傳輸信號。隨著電信和數(shù)據(jù)通信業(yè)務(wù)量的不斷增長,數(shù)據(jù)傳輸速度的不斷提高,一些傳統(tǒng)的單端和發(fā)射極耦合邏輯技術(shù)的局限性越來越明顯。多點低電壓差分信號(M-LVDS)
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總線 接口 真正 實現(xiàn) M-LVDS
- 隨著集成電路技術(shù)和工藝的飛速發(fā)展,真正單片化的單片機(jī)已經(jīng)成為主流產(chǎn)品。它的絕在部分資源都在單片機(jī)芯片內(nèi)部;過去需要用外部擴(kuò)展器件才能實現(xiàn)的功能,如 ROM、RAM、A/D、D/A、數(shù)字量I/O、顯示驅(qū)動等功能,現(xiàn)在在單
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解析 方案 單片機(jī) 單片 真正 集成電路
- Q:為什么其他廠商沒有蘋果這樣真正意義上的視網(wǎng)膜(Retina Display)?A:從硬件上來說,因為采用了視網(wǎng)膜屏幕,耗電量和對顯示芯片的要求都大有提升,要在同樣的產(chǎn)品體積下塞下更多電池和更棒的芯片又不會產(chǎn)生散熱
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意義 視網(wǎng)膜 Retina Display 真正 這樣 其他 廠商 沒有
- 采用FPGA開發(fā)真正符合需求的系統(tǒng),要實現(xiàn)能夠?qū)⑺兄匾δ芗稍趩我黄骷脑O(shè)計理由很簡單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時也有助于提高對知識產(chǎn)權(quán)的保護(hù)。如果
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需求 系統(tǒng) 符合 真正 FPGA 開發(fā) 采用
- 影響PFC芯片(6562等系列)的PF值的原因:本人在調(diào)試是總是出狀況,不只為何? L6562工作于峰值電流模式,其工作原理為:將輸出電壓反饋結(jié)果與檢測到的輸入電壓相乘,以此確定電感電流峰值。由此得到的輸入電流
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真正 原因 PF 芯片 影響 PFC 揭秘
- 以智能型混合信號FPGA開發(fā)真正符合需求的系統(tǒng),要實現(xiàn)能夠?qū)⑺兄匾δ芗稍趩我黄骷脑O(shè)計理由很簡單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時也有助于提高對知識產(chǎn)權(quán)的保護(hù)。如果
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符合 需求 系統(tǒng) 真正 開發(fā) 混合 信號 FPGA 智能型
- 要實現(xiàn)能夠?qū)⑺兄匾δ芗稍趩我黄骷脑O(shè)計理由很簡單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時也有助于提高對知識產(chǎn)權(quán)的保護(hù)。如果一項設(shè)計功能的精髓能夠深植于單一芯片上,將會大大增加第三方取得這項設(shè)計的困難度。
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符合 需求 系統(tǒng) 真正 開發(fā) 混合 信號 FPGA 智能型 數(shù)字信號
- 多年來,業(yè)界已開發(fā)出多種成熟的技術(shù)用于在背板總線上傳輸信號。隨著電信和數(shù)據(jù)通信業(yè)務(wù)量的不斷增長,數(shù)據(jù)傳輸速度的不斷提高,一些傳統(tǒng)的單端和發(fā)射極耦合邏輯技術(shù)的局限性越來越明顯。多點低電壓差分信號(M-LVDS)
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總線 M-LVDS 接口 真正 實現(xiàn) 可以
- 以全球3%的份額來斷言中國醫(yī)療電子的未來,似乎顯得過于草率。然而明顯高于全球同類市場的18.2%年均復(fù)合增長率卻著實是個不小的誘惑。于是國外半導(dǎo)體廠商紛紛加大了投入,期望在潛在的應(yīng)用領(lǐng)域中搶得頭籌。然而,此
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真正 起來 才能 何時 電子 醫(yī)療
- 嵌入式測試為串行I/O提供真正的價值,嵌入式系統(tǒng)中對串行I/O的采用將對如何組建設(shè)計團(tuán)隊和采用什么工具產(chǎn)生影響。我堅信針對這一技術(shù)的嵌入式測試的特殊應(yīng)用將為開發(fā)商帶來有價值的幫助。在高速串行領(lǐng)域及以外的其它領(lǐng)域許多其它的可能性都與這一概念相關(guān)。很顯然,隨著半導(dǎo)體技術(shù)在復(fù)雜度和功能以及速度等方面的不斷發(fā)展,嵌入式測試方案將為系統(tǒng)設(shè)計師探究系統(tǒng)提供真正的機(jī)會,不論是硬件還是軟件。
實現(xiàn)嵌入式測試要求一定的靈活度,以便將全新的測試拓?fù)浼軜?gòu)和新的測試方案整合到一起來實現(xiàn)跨度覆蓋到半導(dǎo)體制造商
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真正 價值 提供 I/O 測試 串行 嵌入式
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