首頁  資訊  商機   下載  拆解   高校  招聘   雜志  會展  EETV  百科   問答  電路圖  工程師手冊   Datasheet  100例   活動中心  E周刊閱讀   樣片申請
EEPW首頁 >> 主題列表 >> 高速ad

高速AD測試中的難點

  • 高精度ADC的采樣率不高,測試關(guān)鍵是要有高精度的信號源。而高速ADC測試是一項更具挑戰(zhàn)性的工作,其中采樣時鐘的Jitter和高速數(shù)字接口是兩個必須面對的難題。
    采樣時鐘的Jitter(抖動)問題
    隨著輸入信號和采樣頻率
  • 關(guān)鍵字: 高速AD  測試    

基于單片機系統(tǒng)采用DMA塊傳輸方式實現(xiàn)高速數(shù)據(jù)采集

  • 摘 要: 介紹一種基于單片機系統(tǒng)設(shè)計的DMA硬件電路,以字塊傳輸方式與高速A/D接口。結(jié)合在數(shù)字式磁通表設(shè)計中的 ...
  • 關(guān)鍵字: 單片機系統(tǒng)  直接存儲器  DMA  高速AD  
共2條 1/1 1

高速ad介紹

您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條高速ad!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對高速ad的理解,并與今后在此搜索高速ad的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

熱門主題

樹莓派    linux   
關(guān)于我們 - 廣告服務(wù) - 企業(yè)會員服務(wù) - 網(wǎng)站地圖 - 聯(lián)系我們 - 征稿 - 友情鏈接 - 手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
備案 京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052    京公網(wǎng)安備11010802012473