DFT

　　DFT 　　隨著電子電路集成度的提高，電路愈加復(fù)雜，要完成一個(gè)電路的測(cè)試所需要的人力和時(shí)間也變得非常巨大。為了節(jié)省測(cè)試時(shí)間，除了采用先進(jìn)的測(cè)試方法外，另外一個(gè)方法就是提高設(shè)計(jì)本身的可測(cè)試性。其中，可測(cè)試性包括兩個(gè)方...... [查看詳細(xì)]