突破| 繞過EUV光刻機來實現(xiàn)DRAM芯片自主開發(fā),這家存算一體芯片公司成功實現(xiàn)
來源:問芯Voice
談到一臺一億歐元天價的 EUV 機臺,絕對會觸碰到國內(nèi)半導體產(chǎn)業(yè)心中的“共同遺憾”。
若說半導體產(chǎn)業(yè)有哪些卡脖子的技術(shù),EUV 光刻機無法進口到國內(nèi),足以讓國內(nèi)先進制程芯片的制造“致命”。在邏輯制程(晶圓代工)方面,已經(jīng)讓中芯國際退居到 14nm、28nm 制程,暫時把 7nm 制程以下的先進制程制造放一邊。
在存儲技術(shù)方面,國內(nèi)的 NAND Flash 技術(shù)可以盡情沖刺追趕國際大廠的水平,是因為 3D NAND 堆疊技術(shù)的特性不需要用到 EUV 機臺。反之,當 NAND Flash 晶體管從 2D 變成 3D 架構(gòu),對于半導體設備的最大轉(zhuǎn)變,是需要用到大量的薄膜機臺和等離子刻蝕機臺,EUV 光刻機反而不是主角。這一點給了中國 NAND Flash 技術(shù)的追趕機會。發(fā)展 DRAM 技術(shù),有沒有可能做到完全不需要用到 EUV 光刻機,就可以做出比肩三星、SK 海力士、美光等國際大廠的技術(shù)水平? 這個技術(shù)方向在過去,答案或許是否定的。不過,日前一家新型存算一體芯片技術(shù)公司的技術(shù)突破,或許會讓所有的不可能,轉(zhuǎn)換為無限可能。
在剛剛舉行的中國國際半導體技術(shù)大會 CSTIC 2022 中,芯盟科技 CEO 洪沨在會議中宣布了基于 HITOC 技術(shù)的 3D 4F2 DRAM 架構(gòu)的問世。
“基于 HITOC 技術(shù)的 3D 4F2 DRAM 架構(gòu)”,對外界而言是非常陌生的技術(shù)。在解釋何為 HITOC 技術(shù)?以及何為 3D 4F2 DRAM 架構(gòu)之前,先來提出一個非常關(guān)鍵點:基于 HITOC 技術(shù)所開發(fā)的全新架構(gòu)的 3D 4F2 DRAM 芯片,最大特點是不需要用到 EUV 光刻機,也不需要多重圖形曝光 SAQP(Self-Aligned Quadruple Patterning)的步驟,這可以大幅減少成本,更重要的是,避免技術(shù)往前突破的同時,設備被國外制造商卡脖子。
這是芯盟繼 2020 年發(fā)布存算一體 AI 芯片 SUNRISE 后,在單芯片異構(gòu)集成技術(shù)領域,又一次的重大創(chuàng)新突破。
芯盟在 2020 年 9 月首次發(fā)布全球第一款基于 HITOC 架構(gòu)的高性能存算一體 AI 芯片 SUNRISE,此芯片目前已成功應用于晶圓廠生產(chǎn)線智能缺陷分類系統(tǒng)領域。 再者,高性能計 HPC 公司豪微科技在最新流片成功的布谷鳥 2(cuckoo 2)芯片上,采用的芯盟的HITOC技術(shù),實現(xiàn)了大容量存算一體 3D 架構(gòu)。
芯盟這次把 HITOC 技術(shù)架構(gòu),使用在 DRAM 設計上。
什么是 HITOC 技術(shù)?
芯盟科技表示,HITOC 技術(shù)(Heterogeneous Integration Technology on Chip)技術(shù)是運用先進的晶圓對晶圓(Wafer-on-Wafer)和晶粒對晶圓(Die-on-Wafer)混合鍵合(Hybrid Bonding)制造工藝,將不同類型的 wafer 或 die 上下對準貼合,以實現(xiàn)真正的三維異構(gòu)單芯片集成。
芯盟科技當前基于 Wafer-on-Wafer 的 HITOC 技術(shù)產(chǎn)品,已經(jīng)導入市場應用,Die-on-Wafer 和 Multi-Wafer-on-Wafer 的 3D 堆疊產(chǎn)品正在研發(fā)中。
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芯盟也將 HITO C技術(shù)應用到先進 DRAM 開發(fā)中,提出一種全新的 3D 4F2 DRAM 架構(gòu)。首先,芯盟創(chuàng)新性地設計并實現(xiàn)了垂直溝道陣列晶體管(VACT)。
VACT 架構(gòu)中的晶體管采用了鏡像設計,相鄰的兩個晶體管中心對稱。其中單晶硅體之間通過絕緣材料結(jié)合氣隙隔絕的方法分隔開來,同時通過高精密度光刻和刻蝕工藝,嚴格控制單晶硅溝道的厚度,保證其厚度小于一定數(shù)值以使此晶體管在開啟時溝道為全耗盡型,降低了 DRAM 缺陷 “Row Hammer” 效應的影響。
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然后,是利用三維 HITOC 技術(shù)的特點,將存儲單元在 Array Wafer 中垂直豎起,并把存儲單元電容和位線置于 Array Wafer 的上下兩邊,這是 4F2 能夠真正實現(xiàn)的關(guān)鍵因素。
再者,將傳統(tǒng) DRAM 架構(gòu)中的存儲陣列 Array 和主要的 CMOS 邏輯電路分開設計,分別制造在兩片獨立的晶圓上,最終用 HITOC 技術(shù)集成為 3D 4F2 DRAM 單芯片。
對存儲產(chǎn)業(yè)有一些了解的人,對于這樣的技術(shù)想必不陌生,這與存儲的 g 技術(shù)就像是雙胞胎兄弟,都是朝后端封裝下手來突破摩爾定律的限制,并且走出一條不一樣的技術(shù)道路,為國內(nèi)的先進制程技術(shù)帶來重大突破。
因此,未來芯盟突破性的 3D HITOC 4F2 DRAM 架構(gòu)產(chǎn)品是否會在存儲生產(chǎn),值得關(guān)注。因為存儲有成熟前大量生產(chǎn) g 技術(shù)的經(jīng)驗,復制到 3D HITOC 4F2 DRAM 芯片制程的生產(chǎn)會最為合適。
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芯盟也簡述了 3D HITOC 4F2 DRAM 架構(gòu)的幾項重要優(yōu)勢:
第一,更低的位線電容,提升了感應冗余度,降低了 CMOS 設計的難度;
第二,更低的字線延遲,使得高頻率 DRAM 設計更加簡單;
第三,CMOS 獨立在一片晶圓上設計,不受Array工藝制程的限制,具有更為充分的發(fā)揮空間;
第四,更低的成本,該架構(gòu)的單個 Array 晶體管面積和傳統(tǒng) DRAM 相比減少 33%,且制程和當前半導體制程兼容,所需的雙重曝光 SADP 工藝次數(shù)較傳統(tǒng)工藝大大減少,無須昂貴的多重曝光 SAQP 和 EUV 工藝;
第五,更好的技術(shù)延展性,傳統(tǒng) DRAM 的發(fā)展受限在大尺寸微縮的同時,SN(Storage Node)電容值下降過快,導致設計難度增大,HITOC DRAM 架構(gòu)設計對 SN 電容值的敏感度更低,SN 制程復雜度和高K介質(zhì)的K值要求均低于傳統(tǒng) DRAM 架構(gòu),所以未來 HITOC DRAM 的微縮空間更大。
從目前的信息可知,基于創(chuàng)新的 HITOC 技術(shù)的 3D 4F2 DRAM 架構(gòu),從后端封裝另辟蹊徑,可以走出一條與傳統(tǒng) DRAM 架構(gòu)不一樣的道路。但目前還不知道的另一個關(guān)鍵點是:利用 HITOC 技術(shù) 3D 4F2設計生產(chǎn)出來的 DRAM芯片,可以對標到國際大廠多少納米nm的技術(shù)?可以直接進入10nm以下嗎?
一來可以避免傳統(tǒng) DRAM 設計和制造上的專利壁壘,二來不需要 EUV 光刻機不但可以大幅節(jié)省生產(chǎn)成本,更可以避開國際大廠卡脖子的狀況,對于現(xiàn)階段的芯片技術(shù)發(fā)展,會是一個很重要的突破信號點。
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