羅杰斯｜你問我答｜第一期

Q：相同材料下測(cè)得的電路插入損耗與羅杰斯的數(shù)據(jù)有差異

A：一般傳輸線的電路的插入損耗通常可以分為兩個(gè)部分，分別是介質(zhì)損耗和導(dǎo)體損耗。在使用相同電路材料，在相同頻率的情況下，介質(zhì)損耗視為相同，那么這個(gè)差異可以從導(dǎo)體損耗去尋找差異。

首先，是否使用相同的電路形式，比如羅杰斯通常采用微帶線的方式測(cè)試電路的損耗特性，那么對(duì)比時(shí)是否也是使用微帶線的傳輸線，導(dǎo)體寬度是否相同。導(dǎo)體寬度越窄會(huì)導(dǎo)體損耗越大。

其次，羅杰斯所提供的數(shù)據(jù)中均沒有任何的表面處理，僅裸銅的損耗。而如果對(duì)比時(shí)的電路采用了表面處理，由于表面處理的導(dǎo)電性通常更大，因此會(huì)增加導(dǎo)體損耗。

再者，在相同導(dǎo)體寬度也無表面處理的情況下，還需要注意關(guān)注對(duì)比的電路的回波特性，特別是在較高頻率下回波特性更容易導(dǎo)致能量損失，造成更大的電路損耗。

因此，從這幾個(gè)方面去分析對(duì)比，可以得到問題所在。

Q：毫米波下的介電常數(shù)測(cè)試

A：對(duì)于材料的介電常數(shù)的測(cè)試和評(píng)估有很多種不同的方法，主要可以分為基于原材料的測(cè)試方法和基于電路的測(cè)試方法。

一方面，基于原材料的測(cè)試方法的準(zhǔn)確度很大程度上取決于測(cè)試夾具的精度和可重復(fù)性。目前能準(zhǔn)確測(cè)試毫米波頻段下的材料性能的測(cè)試方法較少，且其中絕大多數(shù)方法測(cè)試的時(shí)材料平面內(nèi)的介電常數(shù)，而非與實(shí)際電路的電場(chǎng)方向一致的厚度方向的介電常數(shù)。這樣得到的介電常數(shù)與實(shí)際電路會(huì)有一定的差異。

另一方面，可以采用基于電路的測(cè)試方法來評(píng)估測(cè)試材料在毫米波下的介電常數(shù)，比如使用諧振電路形式或傳輸反射的方法。傳輸反射法最為常用的是基于微帶線的介電常數(shù)測(cè)試方法，而諧振電路法常用的是諧振環(huán)方法。相比之下，微帶線電路更為簡(jiǎn)單，不容易受加工容差的影響，而諧振環(huán)更容易受到加工等容差變化影響，比如諧振環(huán)耦合耦合間隙、銅厚、諧振環(huán)直徑大小等變化會(huì)造成諧振頻率偏移，從而造成得到的介電常數(shù)偏移。

總的來說，毫米波下的介電常數(shù)的測(cè)試變得更加的困難和易受影響，選擇一種適合并與應(yīng)用電路相近的測(cè)試方法能更好的評(píng)估材料的特性。

Q：PTFE材料在POFV制程上的適用性

A：POFV工藝需要做機(jī)械磨刷，而PTFE材料材質(zhì)軟不建議做機(jī)械磨刷。

對(duì)于雙面PTFE板會(huì)有較大難度，因?yàn)闄C(jī)械磨刷會(huì)導(dǎo)致PTFE材料尺寸發(fā)生變化難以控制，可能會(huì)導(dǎo)致報(bào)廢。如果選擇有玻璃布增強(qiáng)的PTFE材料，并嚴(yán)格控制機(jī)械磨刷的條件，做POFV工藝是可行的。

對(duì)于PTFE與熱固性材料的混壓多層板，多層板的尺寸穩(wěn)定性是由熱固性材料決定的，所以機(jī)械磨刷后并不會(huì)因?yàn)槌叽缱冃味鴮?dǎo)致報(bào)廢。但在機(jī)械磨刷PTFE材料這一面時(shí)需要注意凹坑凹點(diǎn)的產(chǎn)生。綜合以上，在PTFE材料上做POFV工藝有難度，但是可行的。