汽車芯片AEC-Q100測試認證解讀

1AEC-Q認證是國際汽車電子領(lǐng)域的準入門檻

AEC即Automotive Electronics Council，是美國汽車電子委員會的簡稱。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車發(fā)起并創(chuàng)立于1994年，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子和半導(dǎo)體廠商，符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時采用，促進了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動了汽車零件通用性的實施，為汽車零部件市場的快速成長打下基礎(chǔ)。AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測試標(biāo)準，是零件廠商進入汽車電子領(lǐng)域，打入一級車廠供應(yīng)鏈的重要門票。

AEC-Q100是AEC的第一個標(biāo)準，主要是針對車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計出的一套應(yīng)力測試標(biāo)準，此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個芯片進行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，特別對產(chǎn)品功能與性能進行標(biāo)準規(guī)范測試。

2要求通過AEC-Q100標(biāo)準的車用集成電路IC

單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲類芯片、計算類芯片、安全類芯片、LED類驅(qū)動芯片、電源芯片、運算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等

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AEC-Q100車用IC產(chǎn)品驗證流程

4AEC-100測試項目分組

• 群組A--加速環(huán)境應(yīng)力測試(PC、THB/HAST/AC、UHST/TH、TC、PTC、HTSL)共6項測試

• 群組B--加速生命周期模擬測試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項測試

• 群組C--封裝組裝完整性測試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項測試

• 群組D--芯片制造可靠性測試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項測試

• 群組E--電性驗證測試(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF)--共11項測試

• 群組F--缺陷篩選測試(PAT、SBA)--共2項測試

• 群組G--腔體封裝完整性測試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項測試

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華碧能力范圍及AEC-100技術(shù)要求

關(guān)于華碧實驗室

華碧實驗室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測、鑒定、認證和研發(fā)為一體的第三方檢測與分析的新型綜合實驗室，擁有豐富的車規(guī)級電子認證經(jīng)驗，已成功幫助300多家企業(yè)順利通過AEC-Q系列認證，通過AEC-Q100對每一個芯片個案進行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認。

華碧實驗室以車企車規(guī)芯片國產(chǎn)化需求為牽引，依托國產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，提供完善的檢測認證服務(wù)，通過AEC-Q100車用標(biāo)準嚴格把控汽車芯片安全質(zhì)量，助力國產(chǎn)車規(guī)級芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車安全體系再添新動力。

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