BOSHIDA 模塊電源高低溫試驗箱測試原理

BOSHIDA   模塊電源高低溫試驗箱測試原理

電源模塊是可以直接貼裝在印刷電路板上的電源供應(yīng)器，其特點(diǎn)是可為專用集成電路（ASIC）、數(shù)字信號處理器 （DSP）、微處理器、存儲器、現(xiàn)場可編程門陣列 （FPGA） 及其他數(shù)字或模擬負(fù)載提供供電。一般來說，這類模塊稱為負(fù)載點(diǎn) （POL） 電源供應(yīng)系統(tǒng)或使用點(diǎn)電源供應(yīng)系統(tǒng) （PUPS）。由于模塊式結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)甚多，因此模塊電源廣泛用于交換設(shè)備、接入設(shè)備、移動通訊、微波通訊以及光傳輸、路由器等通信領(lǐng)域和汽車電子、航空航天等。

1.低溫工作下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開狀態(tài)放入試驗箱內(nèi)，使箱內(nèi)溫度降至-25±3℃,達(dá)到溫度穩(wěn)定后，接通電源滿載工作2 h , 在此時間內(nèi)，受試產(chǎn)品工作應(yīng)正常。 切斷交流輸入電源，使受試產(chǎn)品切換到電池供電，工作也應(yīng)正常。

2.低溫貯存運(yùn)輸下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開狀態(tài)放入試驗箱內(nèi)，使箱內(nèi)溫度降至-10±3℃,達(dá)到溫度穩(wěn)定后，存放12 h。

試驗期滿后，使試驗箱內(nèi)溫度上升至規(guī)定的條件，并在此條件恢復(fù)2h 。試驗箱內(nèi)升溫時間不計入恢復(fù)時間。檢查外觀應(yīng)符合要求，然后加電，工作應(yīng)該正常。

3.高溫工作下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開狀態(tài)放入試驗箱內(nèi)，使箱內(nèi)溫度降至40±3℃,達(dá)到溫度穩(wěn)定后，接通電源滿載工作2 h , 在此時間內(nèi)，受試產(chǎn)品工作應(yīng)正常。 切斷交流輸入電源，使受試產(chǎn)品切換到電池供電，工作也應(yīng)正常。

4.高溫貯存運(yùn)輸下限 試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開狀態(tài)放入試驗箱內(nèi)，使箱內(nèi)溫度降至45±3℃,達(dá)到溫度穩(wěn)定后，存放12 h。試驗期滿后，使試驗箱內(nèi)溫度上升至規(guī)定的條件，并在此條件恢復(fù)2h 。試驗箱內(nèi)升溫時間不計入恢復(fù)時間。檢查外觀應(yīng)符合要求，然后加電，工作應(yīng)該正常。

優(yōu)點(diǎn)

設(shè)計簡單。只需一個電源模塊，配上少量分立元件，即可獲得電源。

用途廣泛：模塊電源可廣泛應(yīng)用于航空航天、機(jī)車艦船、軍工兵器、發(fā)電配電、郵電通信、冶金礦山、自動控制、家用電器、儀器儀表和科研實驗等社會生產(chǎn)和生活的各個領(lǐng)域，尤其是在高可靠和高技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的重要作用。