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解鎖半導(dǎo)體工藝:硅片晶圓制造與氧化工藝全覽

發(fā)布人:傳感器技術(shù) 時間:2024-10-19 來源:工程師 發(fā)布文章

硅片晶圓制造

1. 怎么理解硅片,拋光片,退火片,外延片,晶圓,芯片,IC/集成電路,分立器件/單管,模塊?

集成電路產(chǎn)業(yè)中所用的半導(dǎo)體材料包括硅,鍺,砷化鎵,磷化銦,碳化硅,氮化鎵等等,由于硅的儲量極其豐富,而且提純,加工工藝非常成熟,氧化硅/SiO2的絕緣性非常好等特點(diǎn),以硅為材料制造的硅晶圓占據(jù)全球99%以上的半導(dǎo)體晶圓市場。

硅晶圓的制造過程

硅石(通過還原)-->金屬硅(通過提純)-->多晶硅(通過在坩堝中加熱熔融)-->熔融硅(通過直拉法長晶)-->單晶硅棒(通過線刀切割)-->硅片(通過化學(xué)機(jī)械研磨)-->拋光片(通過熱處理)-->退火片(通過外延生長)-->外延片(通過多種工藝配合)-->制造各種集成電路或者分立器件

硅片: 把單晶硅棒去頭去尾,留取硅棒中間部分的硅坯,再以切割加工得到的硅圓片。

拋光片:把切好的硅圓片經(jīng)過倒角,研磨使其成為單面或者雙面成為鏡面狀態(tài)。

退火片:對于部分硅圓片在拋光后還要放入擴(kuò)散爐中進(jìn)行熱處理,確保硅片表面成為無缺陷層,即為退火片。

外延片:在單晶襯底上使生長出晶相和襯底一樣單晶薄膜。外延層可以是同質(zhì)外延,也可以是異質(zhì)外延。

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圖一

晶圓:通常切割完的硅片稱為裸晶圓,把進(jìn)一步在硅片上完成各種電路制作工藝后的硅片稱為晶圓。

芯片:在終端應(yīng)用市場通常把集成電路/IC稱為芯片,但在半導(dǎo)體生成過程中,芯片通常指從晶圓上切下來的一顆顆獨(dú)立的Die/裸片。

半導(dǎo)體分立器件:指不需要與其他器件集成在一起,單個器件作為實(shí)體存在執(zhí)行特定的功能,例如包括但不限于:二極管,三極管,晶閘管,MOSFET,IGBT。

集成電路/IC:把大量的微型電子元器件集成在一個硅片上,以處理和儲存各種功能的電子部件的電子器件。

模塊:把多個元器件通過載板或者電路板連接在一起的電路單元。功率模塊通常是把多個功率器件通過載板集成在一個封裝內(nèi)的電路單元,而一些小信號/小功率模塊可能沒有密封的外殼。

2. 硅晶圓制造

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圖二:晶圓硅片的制造

1. 制造硅錠;2. 硅錠切割;3. 晶圓表面拋光;4.  拋光后的晶圓

  • 晶圓制造的三個階段

第一階段   制造錠(Ingot)

為了將從沙子中提取的硅作為半導(dǎo)體材料使用,首先需要經(jīng)過預(yù)處理,還原反應(yīng),提高純度等工序得到多晶硅。將多晶硅原料在坩堝中高溫熔融,制造高純度的硅溶液,在特定的物料和化學(xué)條件下使其結(jié)晶凝固。這樣形成的硅柱叫做錠(Ingot)

目前單晶硅生長的主要方法有直拉法和區(qū)熔法。

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圖三 直拉法制備單晶硅

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圖四  區(qū)熔法制備單晶硅

第二階段   硅片切割(Wafer Slicing)

通過單晶生長工藝得到的單晶硅錠,需要去頭去尾,留區(qū)硅錠的中間段的若干個硅坯,把硅坯的外圍按所需直徑尺寸做研削加工,(常見的有6英寸,8英寸,12英寸),并在硅坯周邊切出Plat或notch的標(biāo)志。再通過金剛石切割或者線切割(對于12寸晶圓,大多采用線切割),將硅坯切成厚度均勻的薄硅片。

第三階段   硅片表面拋光/(Lapping&Polishing)

切好后的硅片經(jīng)過倒角后,需要再進(jìn)行化學(xué)機(jī)械研磨/CMP,使其單面或者雙面像鏡子一樣光滑,稱為裸晶圓(BareWafer)

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圖五:Fab廠加工前的裸晶圓硅片和加工后的晶圓

  • 晶圓片的相關(guān)名詞

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圖六:晶圓的不同部位

1. 晶圓,2.晶粒,3.分割線,4.平坦區(qū),5.凹槽

① 晶圓(Wafer):晶圓是半導(dǎo)體集成電路的核心材料,是一種圓形的薄片。在半導(dǎo)體制造過程中,半導(dǎo)體硅片通常被切割成圓形,稱為硅晶圓。

② 晶粒(Die):很多四邊形都聚集在圓形晶圓上。這些四邊形都是集成電子電路的IC芯片。

③ 分割線(ScribeLine)看上去各個晶粒像是粘在一起,但實(shí)際上晶粒和晶粒之間具有一定的間隙。該間距稱為分割線。在晶粒和晶粒之間設(shè)置分割線的是為了在晶圓加工完成后將這些晶粒一個個割斷,然后組裝成芯片,也是為了留出用金剛石鋸切割的空間。

④ 平坦區(qū)(FlatZone):平坦區(qū)是為區(qū)分晶圓結(jié)構(gòu)而創(chuàng)建的區(qū)域,是晶圓加工的標(biāo)準(zhǔn)線。由于晶圓的晶體結(jié)構(gòu)非常精細(xì)并且無法用肉眼判斷,因此以這個平坦區(qū)為標(biāo)準(zhǔn)來判斷晶圓的垂直和水平。

③ 凹槽(Notch):如今8寸,12寸也出現(xiàn)了具有凹槽的晶圓。和平坦區(qū)晶圓相比,凹槽晶圓可以制造更多的晶粒,因此利用率更高。半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)包括生產(chǎn)硅片襯底的晶圓產(chǎn)業(yè),以及以晶圓襯底為材料設(shè)計(jì)和制造的晶圓加工產(chǎn)業(yè)---制造行業(yè),就是我們通常所指的晶圓廠,F(xiàn)ab廠/(Fabrication,F(xiàn)AB)。另外,還有封裝測試產(chǎn)業(yè),它將加工過的晶圓切割成晶粒/單顆裸片,并封裝好以防止受潮和受到外部環(huán)境應(yīng)力。

下面為不同的晶圓定位邊標(biāo)識圖:

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圖七:Flat Type和Notch Type

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圖八:主副定位邊圖

氧化工藝

1. 半導(dǎo)體制程工藝分段概覽

如圖九,我們?nèi)粘R姷降碾娐钒?PCBA, 它的基本結(jié)構(gòu)是把MOSFET, 三極管,電阻,電容等元器件固定在印刷電路板上,再通過焊接把元器件和電路板上的銅皮走線連接起來,實(shí)現(xiàn)電路功能。印刷電路板通常有單面板,雙面板,多層板。

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圖九 PCBA

與以上PCBA類似,集成電路就是首先在晶圓上制作包含不同的元器件(二極管,三極管,MOSFET,電阻,電容)區(qū)域,再在元器件區(qū)域?qū)由厦姣B加制作不同的金屬布線層,通過過孔和金屬布線來連接下層元器件區(qū)域的不同元器件(MOSFET, 三極管,等等),像蘋果的手機(jī)芯片A17 Pro里面就集成了190億個晶體管。

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圖十  半導(dǎo)體制程工藝分段

半導(dǎo)體工藝分段:

在半導(dǎo)體制程工藝中,制造電子元器件區(qū)域的過程稱為“前端工藝/前道工藝”,制造若干金屬布線層并且通過硅通孔來連接多達(dá)數(shù)十億甚至百億晶體管的過程,我們稱為“后端工藝/后道工藝”。前端工藝和后端工藝加起來,我們稱之為前段制程,而把完成前段制程的晶圓再進(jìn)行減薄,背面金屬化,劃片,封裝,測試的環(huán)節(jié)稱為后段制程。通常前段制程在Fab廠完成,后段制程在封測廠完成。如圖十一。

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圖十一 半導(dǎo)體制程工藝

在前段制程中,通常會根據(jù)每個環(huán)節(jié)的工藝目的不同,而選擇不同的設(shè)備和工藝組合來生成。前段制程基本上由清洗,光刻,離子注入,氧化/擴(kuò)散/熱處理,成膜,刻蝕,平坦化這幾種工藝的不同組合的多次循環(huán)來實(shí)現(xiàn)工藝目的。如圖十二。

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圖十二  循環(huán)型前段制程流程

2. 氧化工藝

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所有工藝最基礎(chǔ)的階段就是氧化工藝。氧化工藝就是將硅片放置于氧氣或水汽等氧化劑的氛圍中進(jìn)行高溫?zé)崽幚恚?00~1200℃),在硅片表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)形成氧化膜(SiO2薄膜)的過程。

SiO2薄膜因?yàn)槠渚哂杏捕雀?,熔點(diǎn)高,化學(xué)穩(wěn)定性好,絕緣性好,熱膨脹系數(shù)小,以及工藝的可行性等特點(diǎn),在半導(dǎo)體制造工藝中被廣泛采用。

氧化硅的作用

1.器件保護(hù)和隔離,表面鈍化。SiO2具有堅(jiān)硬和致密性好的特點(diǎn),可以保護(hù)硅片,避免在制造過程中受到劃傷和損害。

2.柵氧電介質(zhì)。SiO2具有較高的電介質(zhì)強(qiáng)度和較高的電阻率,穩(wěn)定性好,可作為MOS技術(shù)柵氧結(jié)構(gòu)的介質(zhì)材料。

3.摻雜阻擋。SiO2可作為擴(kuò)散,離子注入,刻蝕工藝中的掩膜阻擋層。

4.墊氧層。減小氮化硅與硅之間的應(yīng)力。

5.注入緩沖層。減小離子注入損傷及溝道效應(yīng)。

6.層間介質(zhì)。用于導(dǎo)電金屬層之間的絕緣(用CVD方法生成)

熱氧化的分類和原理:

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根據(jù)氧化反應(yīng)所使用的氣體,熱氧化法可分為干氧化(Dry Oxidation)和濕氧化(WetOxidation)。

干氧氧化:Si+O2-->SiO2

濕氧氧化:Si+ H2O + O2-->SiO2 + H2

水汽氧化(濕氧):Si + H2O -->SiO2 + H2

干氧化只使用純氧氣(O2),所以氧化膜的生長速度較慢,主要用于形成薄膜,且可形成具有良好導(dǎo)電性的氧化物。濕氧化同時使用氧氣(O2)和高溶解性的水蒸氣(H2O)。所以,氧化膜生長速度快,會形成較厚的膜。但與干氧化相比,濕氧化形成的氧化層密度低。通常,在相同溫度和時間下,通過濕氧化獲得的氧化膜比使用干氧化獲得的氧化膜要厚大約5至10倍。

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圖十三  三種熱氧化層的質(zhì)量比較

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圖十四  氧化系統(tǒng)

來源:華芯


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