博客專欄

EEPW首頁 > 博客 > 一文看懂!溫度循環(huán)試驗與溫度沖擊試驗的區(qū)別

一文看懂!溫度循環(huán)試驗與溫度沖擊試驗的區(qū)別

發(fā)布人:quanminjiance 時間:2024-10-24 來源:工程師 發(fā)布文章

一、受試樣品不同

溫度循環(huán)試驗一般對電路板、部件、整機、設備或系統(tǒng)進行應力篩選試驗。

溫度沖擊試驗一般針對電子元器件、電路板、零部件等進行測試,特別適合用于篩選元器件,尤其是集成電路器件。

二、測試目的不同

溫度循環(huán)試驗主要考核電子設備在溫度循環(huán)變化的環(huán)境適應性能力,是否可以正常工作;

溫度沖擊試驗主要考核受試電子器件在高范圍的環(huán)境應力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗。

三、測試要求不同

溫度循環(huán)試驗:高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率(如5℃/min)、高低溫溫度點保持時間、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為寬松,循環(huán)次數(shù)多為10次循環(huán)。

度沖擊試驗:高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉換時間(如溫度轉換時間≤3min)、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為嚴苛,循環(huán)次數(shù)多為幾次至幾十次循環(huán)不等。

四、受試樣機的工作狀態(tài)不同

溫度循環(huán)試驗:溫度循環(huán)試驗期間要求在不同的循環(huán)時間點需要對受試樣機進行上電檢測功能和性能的完好性。

溫度沖擊試驗:溫度沖擊試驗期間一般不要求對受試樣機進行上電檢測,試驗后通電檢測或通過專業(yè)輔助儀器測試樣機的其他性能指標。

五、受試樣品的數(shù)量不同

溫度沖擊試驗:一般針對集成電路器件、電路板等進行,測試的數(shù)量一般較多。

溫度循環(huán)試驗:一般的環(huán)境應力篩選只在要求篩選的幾臺或1臺受試整機或系統(tǒng)上進行測試。

六、測試設備不同

溫度循環(huán)試驗:

對于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低(如1℃/min)的溫度循環(huán)試驗,其實就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗,使用普通的高低溫試驗箱即可進行測試。

對于要求高溫度變化速率(如5℃/min,10℃/min,15℃/min)的溫度循環(huán)試驗,需要使用專用的快速溫變箱進行測試,普通溫度箱是不能滿足要求的,對于要求更高溫度變化速率的,就需要使用高加速壽命HALT試驗箱。

溫度沖擊試驗:

一箱法的溫度沖擊試驗箱,試驗箱只有一個區(qū)域,低溫溫度點時,高溫風門關閉,只送冷風,高溫溫度點時,低溫風門關閉,高溫風門打開送熱風。

兩箱法溫度沖擊箱,一個低溫區(qū),一個高溫區(qū),通過提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉換。

七、檢測標準不同

溫度循環(huán)試驗:

GJB 1032-1990《電子產品環(huán)境應力篩選方法 》;

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

溫度沖擊試驗:

GJB 150.5A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗》;

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

檢測試驗找彭工136-9109-3503。


*博客內容為網友個人發(fā)布,僅代表博主個人觀點,如有侵權請聯(lián)系工作人員刪除。




技術專區(qū)

關閉