4G模組SIM卡電路很簡單,但也要注意這些坑
本篇文章我們主要講SIM卡硬件電路相關(guān)的基礎(chǔ)知識,以及常見的一些坑。
我們4G-Cat.1模組經(jīng)典型號Air780E為例進行說明。
Air780E最新資料下載:
www.air780e.cn
一、先說說SIM卡信號
基礎(chǔ)的SIM卡相關(guān)信號有4個:
USIM_VDD:SIM卡供電電源;
USIM_RST:SIM卡復位信號;
USIM_DAT:SIM卡數(shù)據(jù)信號;
USIM_CLK:SIM卡時鐘信號。
管腳定義及參考電路如下:
除了以上4個基礎(chǔ)信號外,還有兩個信號大家經(jīng)常會遇到:
USIM_VPP:SIM卡編程電源;
USIM_DET:SIM卡插入監(jiān)測。
對于USIM_VPP,大家經(jīng)常會的疑問是:
——我需要接嗎?懸空可以嗎?
答案是:
——跟USIM_VCC短接在一起也可以,懸空也可以,對于大家所使用的SIM卡來說,這個信號就是個擺設(shè)。
模組推薦大家直接懸空,你看我們的手冊都沒介紹這個信號.......
對于USIM_DET,則跟另外兩件事息息相關(guān):
一是你家的模組支持熱插拔嗎?
二是你家的模組支持雙卡單待或者雙卡雙待嗎?
我們先看下Air780E硬件手冊上對于USIM_DET的定義:
所謂熱插拔:
就是模塊在開機狀態(tài)下插入SIM卡,模組軟件可以檢測到這一事件,并且重新開啟SIM卡初始化流程。
知識點:
SIM卡檢測流程默認只在開機時開啟,確認無卡后不會再執(zhí)行SIM卡初始化流程;
USIM_DET相當于告訴模組,SIM卡插進來了,我通知你了,你再執(zhí)行一次初始化流程吧。
參考電路如下:
需要說明的是:
USIM_DET為上下邊沿電平觸發(fā)中斷,觸發(fā)系統(tǒng)進行SIM1通道的卡在位檢測(熱插拔檢測);
注意:是SIM1通道,不是SIM2通道。SIM2不支持插入檢測(接下來我們再介紹SIM2通道相關(guān)的知識)。
從上圖可以看出,USIM_DET上拉到AGPIO3(一直輸出高電平),卡未插入時為高,插入后為低;
為什么上拉到AGPIO3,而不是常見的VDD_EXT電源?說來話長,簡單說就是AGPIO3可以保證模組在開機后任何狀態(tài)下都輸出為高,而VDD_EXT則為了省電在模組休眠狀態(tài)下會間歇性關(guān)閉;
我們的文檔當前做的還真是一言難盡,明明信號定義是USIM_DET,參考原理圖卻寫成USIM_CD......
文檔問題我們已經(jīng)注意到了,是當下重點中的重點,請給我們一點點時間,一定會做好?。。?/span>
二、關(guān)于雙卡單待
大部分模組型號,都可以支持雙卡單待,比如Air780E。
關(guān)于雙卡單待,你需要知道的是:
雙卡單待,顧名思義就是只能一路SIM卡在工作——要么是SIM1,要么是SIM2,無法像我們的手機那樣可以兩張SIM卡同時工作;
支持通過AT指令來指定選用哪一路SIM卡,大家感興趣可以看一下合宙AT指令手冊;
模塊開機會默認檢測SIM1通道,在SIM1通道檢測到SIM卡不在位的情況下才會去檢測SIM2通道;
再次強調(diào)!USIM_DET僅支持SIM1通道,不支持SIM2通道。
因此:對于有內(nèi)置貼片SIM卡的雙卡應(yīng)用場景,建議將貼片SIM卡置于SIM2通道,外置插拔SIM卡座置于SIM1通道,以實現(xiàn)優(yōu)先使用外置插拔SIM卡的效果;
SIM2的參考電路跟SIM1一樣,沒有區(qū)別(不考慮USIM_DET的話)。
三、還需注意哪些事項
除了以上介紹的這些,還有哪些需要注意的呢?
1. 關(guān)于PCB走線:
SIM卡座布局盡量靠近模組SIM接口,走線過長會影響信號質(zhì)量,也容易受到其它高頻信號干擾;
USIM_CLK和USIM_DATA走線應(yīng)包地處理以屏蔽干擾,并遠離射頻走線和電源走線。
2. 關(guān)于電路處理:
USIM_VDD并聯(lián)33pF和1uF電容到地,如果SIM_VDD走線過長,必要時也可增加一個4.7uF電容;
USIM_CLK、USIM_DATA和USIM_RST并聯(lián)33pF電容到地,防止射頻信號干擾;
因模組設(shè)計差異,合宙有的模組型號內(nèi)部USIM_DATA已上拉至USIM_VDD,有的模組型號則內(nèi)部沒有這樣處理,您選用的模組若內(nèi)部沒做USIM_DAT上拉,建議USIM_DAT通過10KΩ電阻上拉到USIM_VDD,增加USIM_DAT驅(qū)動能力;
建議在SIM卡座附近設(shè)計ESD保護,選擇最大反向工作電壓為5V的TVS管,寄生電容小于10pF,布局位置盡量靠近卡座引腳;
USIM_DTA、USIM_CLK、USIM_RST三個信號線建議預留端接電阻22Ω可抑制EMI雜散傳輸。
四、常見避坑指南要點
接下來,重點介紹兩點最常見的避坑指南!
1. 電容、電阻、TVS管參數(shù)選取不當,導致讀卡不良:
通常來說,在考慮電容、電阻、TVS管等參數(shù)時,需重點關(guān)注以下三個問題:
電容容值不宜選取過大,過大會導致無法過濾來自射頻干擾、SIM卡信號波形變緩,甚至致讀卡失敗;
端接電阻值不宜過大,過大會導致信號驅(qū)動能力下降及波形異常;
TVS管寄生電容不宜過大,過大會導致波形變緩,讀卡失敗。
PS:這下你知道各大模組公司的FAE在面對你的SIM卡技術(shù)問題時,通常會讓你把這些元器件都拿掉試試的原因了吧?
2. SIM卡檢測引腳邏輯錯誤,導致讀卡不良:
在使用SIM卡檢測引腳時,客戶有時會誤用和模組檢測邏輯相反的卡座,導致SIM卡檢測功能異常,或者未將USIM_DET上拉至AGPIO3,導致SIM卡無法檢測;
因此,用戶在選擇SIM卡座時,需注意檢測引腳是否與模組檢測邏輯相同,模組是用USIM_DET用高電平表示拔出、低電平表示插入,切勿弄反了檢測邏輯。
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