Intel65nm工藝成熟尋獲漏電流解決辦法
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Intel Fab12工廠的經(jīng)理Steven Megli表示:即使制造環(huán)境的濕度稍有不同,也會對成品率造成嚴重影響。Intel希望在全球的工廠推廣65nm工藝,但Steven Megli也承認這幾乎不太可能,即使在Fab12,也只有90%的環(huán)境參數(shù)滿足要求。
Intel在量產(chǎn)之前不放過任何一個微小錯誤的努力得到了回報——65nm的工藝僅需20個月就達到了成熟的水平,而180nm用了38個月、130nm用了30個月、90nm用了26個月。
Intel可以發(fā)現(xiàn)任何微小的錯誤,但為何沒有發(fā)現(xiàn)基于90nm工藝的處理器明顯的電流泄漏現(xiàn)象?對此,Markus Kuhn表示:Intel很清楚的意識到了這個問題,但這個問題是在研發(fā)的過程中引入的。雖然在提升處理器頻率時會產(chǎn)生巨大的熱量,但之前Intel認為這個問題不太重要。這僅僅到最近這才成為一個令人頭疼的問題。在65nm工藝中,電流泄漏已經(jīng)大大降低。但Markus Kuhn認為業(yè)界無法解決氧化柵極所帶來的電流泄漏問題,這屬于量子機械效應,不可避免。
那么,Intel能在這條路走多遠呢?Markus Kuhn表示這遠無止境。下一個研發(fā)的目標是32nm工藝的處理器,并有望在2009年投放市場。隨后,就將步入納米時代,瞄準20nm或更細的工藝。
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