飛思卡爾半導(dǎo)體使用Tektronix IConnect軟件為發(fā)射機(jī)建模

　　在DSA8200 TDR平臺上運(yùn)行時，IConnect軟件是一種效率高、使用方便且性價比高的解決方案，可在測量的基礎(chǔ)上對gigabit內(nèi)連鏈接和裝置進(jìn)行性能演變，包括信號整合分析、阻抗、S參數(shù)以及可見圖形測試和故障隔離。

　　處理過程

　　圖1顯示了測量用的測試設(shè)置。這里，灰色區(qū)域內(nèi)的每個元件都是發(fā)射機(jī)的一部分，在帶有TDR測量探頭的DSA8200中用泰克IConnect軟件進(jìn)行測試時，可作為裝置設(shè)備。

　　采用該設(shè)置，TDR和發(fā)射機(jī)產(chǎn)生振幅為100mV pk-pk的1010....(時鐘格式)作為到80E08采樣頭的輸入，并平均DSA8200中取得的300個采集點，從而過濾發(fā)射機(jī)的切換噪音。通過以上捕捉到的輸入，以Zo為參引，計算出Z線為50歐。在阻抗輪廓線上顯示最左邊為50歐，最右邊為42.5歐，即發(fā)射機(jī)的輸出阻抗，如圖3中IConnect捕捉到的所示。從TRD測量探頭一側(cè)看，為發(fā)射機(jī)的輸入阻抗。DUT上看到另一側(cè)-從發(fā)射側(cè)看為輸出阻抗。

　　要看到輸出阻抗，Z線須翻轉(zhuǎn)，作為模擬時的輸入，但模擬時不接受Z線作為輸入。實際DUT的翻轉(zhuǎn)Z線十分理想，可作日后參考。對于輸入，我們將DUT的電壓波形翻轉(zhuǎn)，并稱之為翻轉(zhuǎn)DUT。這時，根據(jù)相同的簡短參引和Zo參引，我們計算出翻轉(zhuǎn)DUT電壓波形的Z線，得出發(fā)射機(jī)的輸入阻抗為42.5歐，而不是50歐。這與圖3中所示的實際DUT的翻轉(zhuǎn)Z線一致。

　　模擬時，采用了單線模型的布局，因為這是與反射參引和簡短/開放式參引工作的唯一模塊。我們再次使用了計算得出的Z線，其具有相同的翻轉(zhuǎn)DUT、相同的簡短參引和同樣為42.5歐的Zo。

　　“有了IConnect軟件，我們能以不同的方式實現(xiàn)我們的方法，這真是太奇妙了?，F(xiàn)在，設(shè)計組能清楚地了解包的間斷性和其系統(tǒng)的Tx/Rx實際終端，以及發(fā)射的另一側(cè)。模擬發(fā)射機(jī)時，使用Iconnect使我們不再采用傳統(tǒng)的基于VNA的方法，而是采用更真實的方法。”

　　飛思卡爾半導(dǎo)體公司(印度設(shè)計中心)信號完整性分析工程師Naresh Dhamija說。

　　如圖4所示，采用了精確分割。接著，在該模型上進(jìn)行模擬。如圖5所示，按下模擬按鈕，將終端改為50歐，從而使模擬的TDR電壓波形與翻轉(zhuǎn)的TDR電壓波形準(zhǔn)確匹配。

　　眼圖選擇可設(shè)置101010種型式，電壓等級從-50mV至50mV，上升時間可達(dá)70 ps。采用Iconnect得出的模擬眼圖(圖6)與圖2的測量眼圖類似。

　　飛思卡爾半導(dǎo)體公司的信號完整性分析工程師Rajeev Sharma說：“采用TDR測量技術(shù)時，我們試圖采用了TDT測量技術(shù)。只是，我們沒有在該模型中假設(shè)R=G=0。提取無損的包的模型和只有一個接口的Tx/Rx實際終端，這是十分有用的。采用這一方法，我們可以預(yù)測眼圖形狀失真，這是由于發(fā)射線的不連續(xù)性造成的，包括電路板跡線，連接器，插座等因素。”

　　泰克科技：在數(shù)字時代的創(chuàng)新

　　泰克IConnect軟件在行業(yè)內(nèi)獨具一格，在不斷更新的數(shù)字時代，這是創(chuàng)新的又一實例。

　　飛思卡爾半導(dǎo)體公司模擬發(fā)射機(jī)最重要的一點是，從發(fā)射側(cè)看，得出了一個真實的阻抗輪廓線。IConnect可嘗試無限的范圍，這使它具有驚人的靈活性。

　　飛思卡爾半導(dǎo)體公司高級設(shè)計工程師Naresh Dhamija稱：“IConnect幫助我們獲得了從驅(qū)動器到電路板跡線的阻抗輪廓線，并接收到重要信息，例如，對包和芯片寄生行為的模擬等。事實上，當(dāng)產(chǎn)生的發(fā)射達(dá)到效率水平時，的確不需要說示波器上所見波形與IConnect模擬的眼圖上相同。”

　　“采用TDR測量技術(shù)時，我們試圖采用了TDT測量。只是，我們沒有在該模型中假設(shè)R=G=0。提取無損的包的模型和只有一個接口的Tx/Rx實際終端，這是十分有用的。采用這一方法，我們可以預(yù)測眼圖的形狀失真，這是由于發(fā)射線的不連續(xù)性造成的，包括電路板跡線，連接器，插座等因素。”

　　Rajeev Sharma  飛思卡爾半導(dǎo)體公司(印度設(shè)計中心)信號完整性分析工程師說。