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基于小波變換的視頻應(yīng)變測量系統(tǒng)設(shè)計與實(shí)現(xiàn)

—— The Design and Implementation of the Wavelet-based Video Strain Measurement System
作者:王占富 中國空空導(dǎo)彈研究院(河南洛陽471009) 謝麗萍 清華大學(xué) 時間:2011-04-27 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  引言

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/119035.htm

  應(yīng)變是材料測試中的重要參數(shù),材料力學(xué)的一個重要研究領(lǐng)域是通過建立材料的應(yīng)力-應(yīng)變關(guān)系如圖1,研究和預(yù)測材料的力學(xué)行為[1],所以應(yīng)變的獲取關(guān)系到是否能正確和有效地構(gòu)建材料的本構(gòu)方程。在實(shí)驗力學(xué)中,應(yīng)變并非直接測量,它是通過對材料絕對變形測量后再按照相應(yīng)的應(yīng)變定義計算得出。

  實(shí)際中通常采用機(jī)械式引伸計夾持在工件上,對工件施加載荷的同時進(jìn)行測量。對于剛性材料,應(yīng)變一般可以使用傳統(tǒng)的機(jī)械夾持式引伸計進(jìn)行測量。然而,這類裝置對諸如纖維、薄膜、泡沫等軟塑性材料的工件就無法使用,因為它們的重量和夾持方法都會影響試驗結(jié)果與斷裂點(diǎn)。在實(shí)際情況下,需要測知超大應(yīng)變范圍直至斷裂的材料性能,受行程限制,機(jī)械式引伸計需要在試件斷裂前提下,對于一些特定環(huán)境條件下的工件,例如高溫條件,機(jī)械引伸計使用也會受到限制。

  為減少測量誤差、提高測量的精度及提高實(shí)際的適用范圍。在材料拉伸試驗的背景下,設(shè)計并采用系統(tǒng)間接測量材料拉伸試驗中實(shí)時變化的應(yīng)變。該應(yīng)變測量系統(tǒng)既要滿足試驗的測量精度,又要保證測量的實(shí)時性。文中在材料拉伸試驗應(yīng)變測量的精密邊緣檢測算[2,3]法進(jìn)行了深入研究,在成熟的理論下,創(chuàng)新地將期望亞像素算法應(yīng)用于系統(tǒng)設(shè)計中。

  期望值亞像素定位法

  小波分析是一種多分辨率分析[4],能在時域和頻域突出信號的局部特征,現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于去噪和邊緣檢測等圖像處理領(lǐng)域。

  小波變換邊緣檢測原理

  一維小波函數(shù)表示如下:

 

  圖像函數(shù)f(x)在小波尺度a下的小波變換由卷積運(yùn)算得到:

 

  對于某些特殊的小波函數(shù),小波變換的模極大值對應(yīng)信號的突變點(diǎn)。設(shè)是一個平滑的函數(shù),定義為的一階導(dǎo)數(shù):

 

  記作,則在小波尺度a下的小波變換就為:

 

  小波變換正比于被平滑的函數(shù)f(x)的一階導(dǎo)數(shù),則的極大值對應(yīng)的是導(dǎo)數(shù)的極大值,它也正是在小波尺度a下,信號的局部突變點(diǎn)。因此,小波變換模極大值檢測可應(yīng)用于圖像的邊緣檢測[5]。

  小波變換期望值亞像素定位法原理

  設(shè)一維理想邊緣模型為:

 

  其中,

  對實(shí)際的成像系統(tǒng),由于CCD是積分器件,它的輸出灰度值與其感光面上的光強(qiáng)分布相關(guān)。設(shè)G(x)表示成像系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù),其通??捎酶咚购瘮?shù)近似表示:

 

  成像系統(tǒng)所獲取的理想邊緣無噪聲圖像為:

 

  其中:x0為邊緣圖像的準(zhǔn)確位置。


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