艾克賽利將在DAC2011展示領(lǐng)先產(chǎn)品解決方案
艾克賽利,行業(yè)器件級(jí)建模驗(yàn)證以及PDK解決方案的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者,宣布參加于2011年6月5日到9日在美國(guó)圣迭戈舉辦的第48屆設(shè)計(jì)自動(dòng)化大會(huì)(DAC2011),展臺(tái)號(hào)為#2830。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/119521.htm艾克賽利將在此次盛會(huì)上展出行業(yè)領(lǐng)先的產(chǎn)品解決方案。 請(qǐng)?zhí)崆奥?lián)系tsmith@accelicon.com 以便安排單獨(dú)的會(huì)談以及實(shí)例演示。更多信息請(qǐng)關(guān)注艾克賽利在此次大會(huì)的電子展臺(tái):http://www2.dac.com/ebooth/exhibitor.aspxconfid=21&mpid=880。
在盈利的第九個(gè)年頭,艾克賽利已經(jīng)成為市場(chǎng)的領(lǐng)導(dǎo)者。 艾克賽利提供的產(chǎn)品方案包括器件級(jí)提參和建模工具M(jìn)BP,器件級(jí)模型驗(yàn)證工具MQA,以及涵蓋版圖效應(yīng)在內(nèi)的先進(jìn)模型分析工具AMA。 作為下一代器件級(jí)參數(shù)提取和建模解決方案,MBP通過出眾的優(yōu)化和仿真實(shí)現(xiàn)了數(shù)量級(jí)上的性能改善。 通過內(nèi)嵌如任務(wù)樹自動(dòng)提取流程以及公式瀏覽器等受專利保護(hù)的創(chuàng)新功能,極大增強(qiáng)了產(chǎn)品的易用性。 MQA作為一個(gè)規(guī)則驅(qū)動(dòng)的器件級(jí)模型驗(yàn)證解決方案,早已被大多數(shù)半導(dǎo)體代工廠和設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用于模型的驗(yàn)證并被廣泛認(rèn)可為模型驗(yàn)證的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái)。 MQA也可用于比較不同的模型或不同的仿真器,以及作為文檔標(biāo)準(zhǔn)。AMA可對(duì)設(shè)計(jì)中的先進(jìn)模型版圖效應(yīng)進(jìn)行自動(dòng)化分析。隨著集成電路特征尺寸的縮減,諸如二階版圖效應(yīng)以及精細(xì)幾何尺寸的表征使得先進(jìn)模型的驗(yàn)證工作越發(fā)復(fù)雜,特別需要AMA這種自動(dòng)驗(yàn)證技術(shù)解決方案。
評(píng)論