新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > 燦芯半導體第一顆40nm芯片驗證成功

燦芯半導體第一顆40nm芯片驗證成功

作者: 時間:2011-06-22 來源:今日投資 收藏

  (上海)有限公司與集成電路制造有限公司(簡稱“”,紐約證交所股票代碼:SMI,香港聯(lián)合交易所股票代碼:HK0981)共同宣布第一顆芯片在一次性流片驗證成功。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/120653.htm

  與新思科技有限公司(Synopsys, Inc.,)及中芯國際深度合作,使燦芯自主研發(fā)的 芯片一次性流片成功。這顆芯片集成了 Synopsys DesignWare嵌入式存儲器和邏輯庫,以及中芯國際自主研發(fā)的 PLL、I/O 等關(guān)鍵 IP 部件,成功驗證了燦芯半導體在 工藝線上的前端和后端設(shè)計流程。

pic相關(guān)文章:pic是什么




關(guān)鍵詞: 燦芯半導體 中芯國際 40nm

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉