泰克跨越RFID測試挑戰(zhàn)“三重門”
曾志總結(jié)了RFID測試面臨的主要挑戰(zhàn):
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/123913.htm1.讀寫器測試
- 需要能夠準確、快速地捕獲RFID的間歇性突發(fā)信號;
- 需要兼容多種調(diào)制和解碼方式及標準;
- 需要時域頻域和調(diào)制域的聯(lián)合分析,時間相關(guān)測量 (如標簽讀取的時序);
- 需要強大的頻域觸發(fā)功能,捕獲頻域上的特定信號(如干擾);
- 跳頻信號捕獲(觸發(fā))和解調(diào)分析 。
2.標簽測試
- 需要對微弱信號的測量和分析能力;
- 需要兼容多種調(diào)制和解碼方式,自動解調(diào)和解碼
3.系統(tǒng)測試
- 密集環(huán)境下的交互和抗干擾測試;
- 一致性(互通性)測試;
- 系統(tǒng)讀寫周期分析;
- 解碼和信令測試;
- 需要長存儲,存儲多個完整的讀寫周期,便于對讀寫狀態(tài)分析。
“能實時、準確捕獲RFID間歇性信號,支持多標準、多域分析功能等,這是相應信號分析設(shè)備應對上述三個方面測試挑戰(zhàn)所要具備的特性。”曾志指出,“泰克基于DPX專利技術(shù)的實時信號分析儀(RTSA)系列以及最新推出的集成頻譜分析儀的混合域示波器MDO4000系列為RFID研發(fā)、現(xiàn)場和認證測試提供了強大的解決方案平臺。”
圖3: 實時頻譜分析儀和傳統(tǒng)頻譜分析儀的區(qū)別。
跨越研發(fā)、現(xiàn)場、認證測試“三重門”
RFID的測試分為研發(fā)測試(讀寫器實驗室研發(fā)、系統(tǒng)開發(fā)和驗證)、現(xiàn)場測試(系統(tǒng)調(diào)試、電磁環(huán)境評估、干擾查找和定位、數(shù)據(jù)采集)和認證測試(RFID標準一致性測試、系統(tǒng)互通性測試 )三個階段。
泰克公司提供的RFID測試解決方案——RTSA和混合域分析儀及示波器MDO在研發(fā)測試階段所能發(fā)揮的作用分為以下三個方面:
1.讀寫器設(shè)備的Troubleshooting:如進行讀寫器信號實時頻譜分析(頻率、功率、調(diào)制帶寬等),調(diào)制質(zhì)量分析,瞬態(tài)噪聲分析,跳頻捕獲和調(diào)制質(zhì)量分析,時序測量,命令測試等;
2.標簽測試:靈敏的觸發(fā)設(shè)置,捕獲低調(diào)制深度標簽信號,時序測量,頻譜測試,負載調(diào)制能量和質(zhì)量;
3.分析和評估讀寫器與標簽互通特性:實時頻譜分析(同頻頻譜分析),時序測量,碰撞分析,標簽調(diào)制回波質(zhì)量分析。
泰克RTSA可以在一臺儀表中同時獲得寬帶矢量信號分析儀、頻譜分析儀功能,并具備獨有的觸發(fā)-捕獲-分析能力,可以輕松應對所有RFID應用中瞬變信號的捕獲。頻率達到8GHz,適合RFID所有頻段要求;高達85MHz分析帶寬,可滿足所有RFID標準測試。其專利的DPX實時頻譜技術(shù),實現(xiàn)292,000頻譜/秒更新速度。而超長記錄時間,能夠記錄完整的RFID交互過程。
圖4:泰克RTSA集成的DPX實時頻譜顯示技術(shù)非常適合RFID的讀寫器頻譜分析。
RTSA具有靈活的頻率模板觸發(fā)器(FMT),為可靠地檢測和分析動態(tài)RF信號提供了一個強大的工具。它還可以用來進行傳統(tǒng)頻譜分析儀不可能完成的測量,如在存在強大的RF信號時捕獲小電平瞬時事件,在擁擠的頻譜范圍內(nèi)檢測特定頻率上的間歇性信號。分析儀在檢測到觸發(fā)事件時,能夠把觸發(fā)前和觸發(fā)后的數(shù)據(jù)保存到內(nèi)存中。一旦信號已經(jīng)采集并存儲在內(nèi)存中,可以使用RTSA 中提供的各種時間相關(guān)視圖分析信號,這種時間相關(guān)的多域分析功能提供了巨大的靈活性,可以使用各種分析工具,放大和全面檢定采集的RF信號的不同部分。
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