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使用纮康HY11P系列單芯片實現(xiàn)電壓與溫度量測應(yīng)用

作者: 時間:2012-06-11 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
  •   4 技術(shù)規(guī)格

  4.1 技術(shù)規(guī)格

本文引用地址:http://count.eepw.com.cn/count/doRedirect?http://butianyuan.cn/article/133397.htm

  操作電壓 :2.4V~3.6V。

  功耗 :0.2mA ~ 0.75mA。

  分辨率 :Voltage: 1uV ~ 10uV;Temperature: 0.1℃。

  顯示速率(Hz) :依不同模式OSR設(shè)定而不同。

  顯示值 :±400.00mV, ±10.000mV, ±400.0mV, ±150.0℃。

  4.2 實驗方式

  實驗儀器: Power Supply - Agilent E3630A

       Calibrator- Fluke 5500A

       USB/SPI Communication Board - PIC18LFxx Base

  本文針對HY11P13芯片采用下圖4-1 A/D網(wǎng)絡(luò)配置方式,并使用DC電壓值輸入做靜態(tài)INL(積分非線性)誤差測試,在ΔVR=1V,ΔVIN為校準器Fluke5500A電壓輸入訊號源,輸入訊號為±450mV,1mV/Step范圍內(nèi)進行分析。

  

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  圖 4?1 A/D INL測試電路圖

  本文在所有輸入訊號測量完成后,采取±300mV輸入訊號處的數(shù)字輸出值當作校正點,取得一線性值(ADOCAL),再以實際每一點數(shù)字輸出值和該線性值(ADOCAL)做INL誤差計算:

  

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  下表4-2為針對DC輸入信號源進行靜態(tài)INL誤差分析,結(jié)果顯示在該輸入范圍內(nèi)整體積分非線性誤差∣ INL error ∣ ≦ 10PPM。

  

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  表 4?2 A/D INL測試分析表



關(guān)鍵詞: 纮康 轉(zhuǎn)換器 ADC

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