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通過增益校準提高DAC積分非線性(INL)

作者:OnurOzbek 時間:2012-08-21 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

圖3:帶ADC反饋的I

  INL通常在滿量程的一半達到其最大值,如圖 4所示。如果我們能把這個峰值降下來,我們將會顯著改善INL。這個發(fā)現(xiàn)引導我們使用兩點校正代替終端或單點校正技術(shù),因為通過終端或單點校正技術(shù)并不足以完全去除增益誤差。第一個校準點用來校準前半部分(見方程1)。同樣,第二個校準點用于校準后半部分(見方程2)?! ?/p>本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/135954.htm

 

  該算法工作流程如下,見圖5。最初,這兩個增益修正值在數(shù)字輸入值中間和末端計算和保存。這是唯一一次使用ADC。因此,我們只有需要測量和計算校準一次。  


圖5:兩點增益校準算法流程圖


關(guān)鍵詞: DAC SoC 轉(zhuǎn)換器

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