集成電路電磁干擾EMC測試方法

連接較長引線輸出高頻信號的引腳，因為較長的引線更易成為發(fā)射電磁波的天線。集成電路的引腳通過標準規(guī)定的匹配網(wǎng)絡接到測試接收機。由于電流探頭和電壓探頭及網(wǎng)絡需設計在線路板上才能進行測試，所以該方法需要設計專用的標準測試板來進行。該方法的具有重復性高的優(yōu)點，可用于比較不同集成電路的電磁發(fā)射特性。

4、工作臺法拉第籠法

工作臺法拉第籠法的測試在一個長0.5m 寬0.35m 高0.15m的金屬屏蔽盒中進行，如圖(四)所示。被測試線路板與底部參考地的距離為0.03m，與周圍金屬面的距離至少為0.06m，測試端口的共模阻抗為150Ω，其它功能連線應經(jīng)過相應的濾波器并接磁環(huán)使其共模阻抗遠大于150Ω(頻率150kHz 時LCM≥280uH)。其測試布置如圖(六)所示。

圖(四)工作臺法拉第籠法圖(五)磁場探頭法

工作臺法拉第籠法用于評估可在小尺寸的線路板上模擬其獨立功能的集成電路。集成電路的電磁發(fā)射可在預定的工作條件下進行測量，另外該方法可以直接測量實際應用電路板相同或與實際應用相近的電路板，這就為預測集成電路在實際應用場合的電磁發(fā)射情況提供了評估方法，也為在對EMC有強制性要求的集成電路功能模塊的電磁發(fā)射性能分級提供了測試方法。該方法來源于IEC61000-4-6，當線路板的電尺寸較小，也就是尺寸
， 如在1GHz 頻率線路板尺寸小于0.15m 時，連接線路板的電纜成為集成電路的發(fā)射天線，電磁發(fā)射主要由這些天線產(chǎn)生，相對這些天線，由集成電路本身產(chǎn)生的發(fā)射小得多，通常可以忽略。從該方法的原 理可以看出，測試結(jié)果中還體現(xiàn)了如下因數(shù)的影響：電路板的布線結(jié)構(gòu);集成電路的去耦措施;電容、電感等分立元

件的高頻性能以及集成電路內(nèi)部不同功能模塊工作時的影響。所以用專門制作的標準測試板測試可以比較集成電路EMC性能，而用實際電路板還可以評估實際應用場合所設計的線路板的EMC性能。在共模測試端測得的電壓與測試距離為10米時的騷擾場強的關(guān)系大致為：

實際場強數(shù)值與線路板及引線的結(jié)構(gòu)和長度有很大的關(guān)系。

5、磁場探頭法

該方法用于測量由集成電路輸出到線路板引線上的射頻電流引起的電磁輻射，與該激勵電流有關(guān)的引線、電源層和地層以及與線路板相連的電纜起到了發(fā)射天線的作用，產(chǎn)生的場強的大小與該電流成正比。線路板的設計，虛擬天線的發(fā)射效率，射頻電流的耦合因子等因數(shù)也會影響最終場強的大小，而集成電路的射頻電流是產(chǎn)生電磁輻射的根源。所以測量集成電路產(chǎn)生的射頻電流可作為評價

集成電路、PCB 板及系統(tǒng)EMC特性的一個方法。采用一個微型磁場探頭在被測線路(如電源線或I/O線)上的特定位置測量其磁場就可經(jīng)計算得出被測引線上的電流大小。在該磁場探頭放置精確的情況下用這種方法所得的測試結(jié)果的可重復性比較高。

我所根據(jù)工作臺法拉第籠法和磁場探頭法建立了兩個方法的測試系統(tǒng)，測試儀器采用Agilent公司的頻譜分析儀E4440A和26dB的預放大器。 E4440A的頻率范圍為10Hz—26.5GHz，它的分辨率帶寬可從1Hz-8MHz的范圍內(nèi)選擇，并具有附合CISPR標準的電磁干擾測試分辨率帶寬和峰值、準峰值和平均值檢測模式，它還具有MIL-STD-461E標準要求的帶寬和檢波方式，適合用于電磁騷擾的測試與評估。測量小信號的靈敏度很高，在1Hz時底噪聲可達到-160dBm，配上預放大器，即使磁場探頭的插入損耗大，也足以檢測到較小的干擾信號。為提高測量準確度，系統(tǒng)配備了射頻電壓校準功能，使儀器的測量誤差小于1dB。工作臺法拉第籠法和磁場探頭法的特點是不僅能測試專用測試電路的電磁兼容性，還可以在實際的應用板上進行測試，可作為不同設計應用方案的性能評估，評價實際應用線路板的電路EMC性能，這樣集成電路生產(chǎn)企業(yè)與應用集成電路設計產(chǎn)品的工程師都能利用該方法進行檢測。由于其體積小，使用方便，可方便EMC設計人員查找產(chǎn)品電路設計、結(jié)構(gòu)布局方面存在的問題，在電路設計改進階段和產(chǎn)品的整改階段提供幫助。