手機(jī)芯片UV膠綁定可靠性問題分析
影響手機(jī)質(zhì)量的一個(gè)重要因素,是手機(jī)主板上芯片焊點(diǎn)的可靠性問題。為了提高芯片焊點(diǎn)的可靠性,很多知名公司都采用底部填充的工藝;而在筆記本電腦制造行業(yè)已經(jīng)成熟的UV膠綁定工藝,目前在手機(jī)領(lǐng)域還沒有得到大規(guī)模的應(yīng)用。
本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/166922.htm本文主要探討在無(wú)鉛工藝下,比較不點(diǎn)膠、UV膠綁定和底部填充對(duì)手機(jī)主板芯片的焊點(diǎn)可靠性的影響(采用滾筒跌落試驗(yàn)作可靠性驗(yàn)證和切片試驗(yàn)等進(jìn)行失效分析),同時(shí)探討手機(jī)芯片邊角UV膠綁定的相關(guān)工藝和可靠性問題。
實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
對(duì)同一產(chǎn)品的一個(gè)批次隨機(jī)選擇6塊手機(jī)主板,實(shí)施三種工藝流程:2塊不點(diǎn)膠或底部填充,2塊對(duì)主芯片底部填充,2塊對(duì)主芯片的四個(gè)角作UV膠綁定,如表1所示:
驗(yàn)證流程
參照標(biāo)準(zhǔn)GB2423.8,選用滾筒跌落儀進(jìn)行可靠性驗(yàn)證,具體流程如下:1、確保選擇的板子通過AOI、目檢、X-Ray檢查,并通過所有功能測(cè)試;2、對(duì)選擇的6塊主板:2塊不做點(diǎn)膠;2塊做底部填充;2塊做UV膠邊角綁定,烘干固化后進(jìn)行試驗(yàn);3、模擬手機(jī)組裝固定方式制作主板的跌落夾具; 4、按照試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)選擇1,000mm高度的滾筒進(jìn)行跌落試驗(yàn); 5、每跌落100次做全功能測(cè)試,直到出現(xiàn)問題為止;6、對(duì)出現(xiàn)不良的主板進(jìn)行失效分析。
試驗(yàn)結(jié)果
實(shí)際滾筒跌落試驗(yàn)結(jié)果如圖2所示。
主板跌落后測(cè)試結(jié)果:6部跌落試驗(yàn)樣機(jī)主板跌落失效信息均為無(wú)法開機(jī)。
失效分析
經(jīng)過測(cè)試技術(shù)人員對(duì)失效主板進(jìn)行分析,確認(rèn)為主芯 片或閃存失效導(dǎo)致無(wú)法開機(jī)。對(duì)失效位置進(jìn)行切片(見圖3)驗(yàn)證,結(jié)果如下:
A1板切片后,主芯片焊點(diǎn)U17在焊盤和錫球焊接處有開裂現(xiàn)象,如圖4所示。
A2板切片后,主芯片焊點(diǎn)U1在PCB側(cè)焊盤處出現(xiàn)局部開裂現(xiàn)象,如圖5所示。
評(píng)論