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降低開(kāi)關(guān)電源開(kāi)關(guān)損耗的原理

作者: 時(shí)間:2012-02-08 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

基于電感的電源(SM-PS)包含一個(gè)功率,用于控制輸入電源流經(jīng)電感的電流。大多數(shù)電源設(shè)計(jì)選擇MOSFET作開(kāi)關(guān)(圖1a中Q1),其主要優(yōu)點(diǎn)是MOSFET在導(dǎo)通狀態(tài)具有相對(duì)較低的功耗。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/177936.htm

MOSFET完全打開(kāi)時(shí)的導(dǎo)通電阻(RDS(ON))是一個(gè)關(guān)鍵指標(biāo),因?yàn)镸OSFET的功耗隨導(dǎo)通電阻變化很大。開(kāi)關(guān)完全打開(kāi)時(shí),MOSFET的功耗為ID2與RDS(ON)的乘積。如果RDS(ON)為0.02W,ID為1A,則MOSFET功耗為0.02*12=0.02W。功率MOSFET的另一功耗源是柵極電容的充放電。這種在高開(kāi)關(guān)頻率下非常明顯,而在穩(wěn)態(tài)(MOSFET連續(xù)導(dǎo)通)情況下,MOSFET柵極阻抗極高,典型的柵極電流在納安級(jí),因此,這時(shí)柵極電容引起的功耗則微不足道。轉(zhuǎn)換效率是SMPS的重要指標(biāo),須選擇盡可能低的RDS(ON)。MOSFET制造商也在堅(jiān)持不懈地開(kāi)發(fā)低導(dǎo)通電阻的MOSFET,以滿足這一需求。

隨著蜂窩電話、PDA及其他電子設(shè)備的體積要求越來(lái)越小,對(duì)電子器件,包括電感、電容、MOSFET等的尺寸要求也更加苛刻。減小SMPS體積的通用方法是提高它的開(kāi)關(guān)頻率,開(kāi)關(guān)頻率高容許使用更小的電感、電容,使外部元件尺寸最小。

不幸的是,提高SMPS的開(kāi)關(guān)頻率會(huì)轉(zhuǎn)換效率,即使MOSFET的導(dǎo)通電阻非常小。工作在高開(kāi)關(guān)頻率時(shí),MOSFET的動(dòng)態(tài)特性,如柵極充放電和開(kāi)關(guān)時(shí)間變得更重要??梢钥吹皆谳^高的開(kāi)關(guān)頻率時(shí),高導(dǎo)通電阻的MOSFET反而可以提高SMPS的效率。為了理解這個(gè)現(xiàn)象就不能只看MOSFET的導(dǎo)通電阻。下面討論了N溝道增強(qiáng)型MOSFET的情況,其它類型的MOSFET具有相同結(jié)果。


1.jpg
圖1.一個(gè)典型的升壓轉(zhuǎn)換器(a)利用MOSFET控制流經(jīng)電感至地。

當(dāng)溝道完全打開(kāi),溝道電阻(RDS(ON))降到最低;如果柵極電壓,溝道電阻則升高,直到幾乎沒(méi)有電流通過(guò)漏極、源極,這時(shí)MOSFET處于斷開(kāi)狀態(tài)??梢灶A(yù)見(jiàn),溝道的體積愈大,導(dǎo)通電阻愈小。同時(shí),較大的溝道也需要較大的控制柵極。由于柵極類似于電容,較大的柵極其電容也較大,這就需要更多的電荷來(lái)開(kāi)關(guān)MOSFET。同時(shí),較大的溝道也需要更多的時(shí)間使MOSFET打開(kāi)或關(guān)閉。工作在高開(kāi)關(guān)頻率時(shí),這些特性對(duì)轉(zhuǎn)換效率的下降有重要影響。

在低開(kāi)關(guān)頻率或低功率下,對(duì)SMPSMOSFET的功率起決定作用的是RDS(ON),其它非理想?yún)?shù)的影響通常很小,可忽略不計(jì)。而在高開(kāi)關(guān)頻率下,這些動(dòng)態(tài)特性將受到更多關(guān)注,因?yàn)檫@種情況下它們是影響開(kāi)關(guān)的主要原因。


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圖2.所示簡(jiǎn)單模型顯示了N溝道增強(qiáng)型MOSFET的基本組成,流經(jīng)漏極與源極之間溝道的電流受柵極電壓控制。

MOSFET柵極類似于電容極板,對(duì)柵極提供一個(gè)正電壓可以提高溝道的場(chǎng)強(qiáng),產(chǎn)生低導(dǎo)通電阻路徑,提高溝道中的帶電粒子的流通。

對(duì)SMPS的柵極電容充電將消耗一定的功率,斷開(kāi)MOSFET時(shí),這些能量通常被消耗到地上。這樣,除了消耗在MOSFET導(dǎo)通電阻的功率外,SMPS的每一開(kāi)關(guān)周期都消耗功率。顯然,在給定時(shí)間內(nèi)柵極電容充放電的次數(shù)隨開(kāi)關(guān)頻率而升高,功耗也隨之增大。開(kāi)關(guān)頻率非常高時(shí),開(kāi)關(guān)損耗會(huì)超過(guò)MOSFET導(dǎo)通電阻的損耗。


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