新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術 > 設計應用 > 定性測試電容器漏電的電路設計

定性測試電容器漏電的電路設計

作者: 時間:2011-11-11 來源:網(wǎng)絡 收藏

電解時間用長后就會出現(xiàn)現(xiàn)象,附圖所示的電路能讓你,并且決定它們是否值得使用,你可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/187210.htm

  附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用。電路中CREF的數(shù)值與待測電容器CX的數(shù)值相近,你也可以通過一個旋轉開關選擇RREF,使其大于或小于22MΩ。

  

  工作原理

  當按鈕開關合上時,電容器CREF和CX通過它們各自的PNP晶體管進行充電。當該開關斷開時,電容器CREF和CX開始放電。假定CREF處在良好狀態(tài),它具有一個附加的放電外接電阻RREF,待測電容器CX通過其內(nèi)部電阻放電。

  如果CX的放電比CREF通過RREF的放電快,此時其電壓將下降較快,這樣,運算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低,迫使運算放大器的輸出變低,從而點亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測電容器CX,該電路表明甚至一個1納法的陶瓷電容器都適應來比作參考,測試前請檢查待測電容器CX的標稱電壓應比其待充電電壓要高。

  運算放大器LF357具有10V的最小電源電壓,本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個低的上限電壓。



評論


相關推薦

技術專區(qū)

關閉