OTDR PON測(cè)試方案 作者： 時(shí)間：2011-06-01 來源：網(wǎng)絡(luò) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對(duì)面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 以下任何原因所導(dǎo)致的階躍響應(yīng)嚴(yán)重失真(分光器分路)：本文引用地址：http://butianyuan.cn/article/194915.htm a. 電子器件的臨界穩(wěn)定性(注意，下圖所示曲線并非來自 EXFO OTDR) b. 強(qiáng)拖尾效應(yīng) c. 不合適的人為增益情況和不適合 PON 鏈路測(cè)試的設(shè)計(jì) 圖1 (a)、(b)、(c)：使用非 PON 優(yōu)化型 OTDR 獲得的 1x32 分光器之后的 OTDR 曲線示例 上一頁 1 2 3 下一頁
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