DDR測試技術(shù)與工具

DDRA的功能特性包括但不限于：

　　1.新的自動配置向?qū)?，引?dǎo)用戶簡便地完成設(shè)置和測試配置;

　　2.可識別和分析整個采集中的所有讀/寫突發(fā);

　　3.為讀和寫繪制DQS和DQ眼圖;

　　4.使用Pass/Fail極限執(zhí)行JEDEC一致性測試;

　　5.使用片選判定多排測量;

　　6.簡便地在一致性測試工具和分析/調(diào)試工具之間切換;

　　7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計(jì)測量結(jié)果和測試設(shè)置信息，自動生成合并報(bào)告。

　　DDRA不是一種獨(dú)立式工具，可直接與泰克強(qiáng)大的抖動、眼圖和定時分析工具DPOJE連接，完成更多測量項(xiàng)目：

　　1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時間測量;

　　2.高級抖動、眼圖測量和Pass/Fail測試;

　　3.多個顯示和繪圖選項(xiàng);

　　4.報(bào)告生成器等。

　　對于DDR的數(shù)字調(diào)試和驗(yàn)證，泰克的TLA7000系列邏輯分析儀+Nexus分析軟件和NEXVu插卡式DIMM夾具提供了世界領(lǐng)先的DDR2/3存儲器數(shù)據(jù)采集、分析和協(xié)議檢驗(yàn)及調(diào)試解決方案。

　　圖4：泰克最新的解決方案加快和改善了DDR2/3的數(shù)字驗(yàn)證和調(diào)試步驟。

　　泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夾具探測解決方案layout符合JEDEC規(guī)范，可探測存儲器IC信號，邏輯分析儀連接位置超出了普通DIMM高度，DIMM內(nèi)部帶有隔離電阻，降低探頭負(fù)載效應(yīng)，可實(shí)現(xiàn)最大的信號完整性堪稱業(yè)界最佳的IC顆粒數(shù)字信號測量方法。

　　泰克提供的最新DDR3邏輯分析儀模塊TLA7BBx是唯一可以捕獲所有DDR3速度的邏輯分析儀，提供了足夠高的定時分辨率，支持全面調(diào)試。同時提供了足夠靈活的觸發(fā)狀態(tài)機(jī)，只觸發(fā)相關(guān)事件。其通道數(shù)量可以擴(kuò)充，且足夠高，可以捕獲所有要求的信號。

　　搭載的Nexus存儲器支持套件有效提高了數(shù)據(jù)分析性能，檢驗(yàn)和調(diào)試存儲器系統(tǒng)操作(包括數(shù)據(jù)有效窗口、讀/寫數(shù)據(jù)操作、DDR命令和模式寄存器初始化)，可迅速簡便地識別協(xié)議違規(guī)。

　　將上述設(shè)備、工具和軟件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器，泰克提供了一個全面了解系統(tǒng)特點(diǎn)的平臺驗(yàn)證系統(tǒng)(如圖5)。這是業(yè)界唯一能夠捕獲和分析所有DDR3速度的解決方案，在所有通道上一直提供了高達(dá)20ps的定時分辨率，支持選擇性時鐘輸入，只存儲實(shí)用數(shù)據(jù)，并且數(shù)字/模擬相關(guān)聯(lián)，可查看整個系統(tǒng)情況。

　　圖5：泰克的DDR平臺驗(yàn)證系統(tǒng)可全面了解系統(tǒng)特點(diǎn)。