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板級(jí)備件通用測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

作者: 時(shí)間:2009-11-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

總線統(tǒng)一后,接下來需要考慮的是如何實(shí)現(xiàn)被測(cè)模板的互聯(lián)問題。統(tǒng)一的總線接口連接器定義CPCI連接器(因?yàn)?a class="contentlabel" href="http://www.butianyuan.cn/news/listbylabel/label/測(cè)試">測(cè)試主機(jī)框架為CPCI或VXI),被測(cè)板卡通過轉(zhuǎn)接板實(shí)現(xiàn)總線的互聯(lián),I/O接口的可以通過電纜和各模塊連接??偩€轉(zhuǎn)換框圖如圖4所示。

本文引用地址:http://www.butianyuan.cn/article/195677.htm

1.2 測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建
1.2.1 系統(tǒng)組成
總線的互聯(lián)問題解決后,需要解決的就是如何實(shí)現(xiàn)針對(duì)專用模板的測(cè)試。首先要搭建一個(gè)系統(tǒng),這個(gè)系統(tǒng)可以涵蓋一些通用模板的測(cè)試,然后再介紹模板的測(cè)試過程,測(cè)試系統(tǒng)原理框圖如圖5所示。

1.2.2 通用型備件測(cè)試系統(tǒng)總線布局
通用型備件測(cè)試為7槽CPCI總線無源底板,該底板采用多層布線加濾波技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),提高了CPCI總線信號(hào)的傳輸質(zhì)量。該底板共有9個(gè)插件位置,其中1個(gè)供電插槽,8個(gè)CPCI總線插槽。CPU模件占用一個(gè)CPCI插槽,2個(gè)I/O測(cè)試板、模擬量測(cè)試板、通訊測(cè)試板、總線仿真板、不占用總線被測(cè)板各占用一個(gè)插槽。底板布局如圖6所示。其中CN1~CN4用于連接被測(cè)模板的I/O部分。總線板和轉(zhuǎn)接板連接用的J2是可定義的仿真總線。
測(cè)試模型構(gòu)建就是針對(duì)每一種測(cè)試模板,在硬件上必須定義總線,定義總線的目的是當(dāng)被測(cè)模板開始測(cè)試時(shí),仿真總線可以產(chǎn)生相應(yīng)的總線。另外就是定義板卡邏輯關(guān)系和數(shù)據(jù)模型,便于測(cè)試邏輯模塊化設(shè)計(jì)。測(cè)試模型是針對(duì)每種模板形成的單一數(shù)據(jù)庫單元,由于前文提到了6種總線接口,因此總線接口可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)單元,方便后續(xù)板卡邏輯設(shè)計(jì)使用。模板的測(cè)試邏輯設(shè)計(jì)時(shí)必須首先了解模板所有的技術(shù)參數(shù)和使用方法,然后利用測(cè)試模型庫和測(cè)試邏輯庫完成測(cè)試邏輯的搭建。

1.3 系統(tǒng)的安全性設(shè)計(jì)
測(cè)試時(shí)充分考慮了測(cè)試覆蓋性,也就是說要在可能的情況下,測(cè)試種類盡量的多。由于以上方面的原因,使得較為復(fù)雜。為防止測(cè)試人員使用時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤,必須進(jìn)行容錯(cuò)及安全性設(shè)計(jì)。安全性設(shè)計(jì)的基本原則:測(cè)試過程中不能損壞被測(cè)模件。
測(cè)試系統(tǒng)中插入模板后,首先需要檢查電源地系統(tǒng)是否存在短路現(xiàn)象,為了保證安全,還需對(duì)模板的總線類別進(jìn)行甄別。因此,系統(tǒng)需要設(shè)計(jì)一種診斷板。只要系統(tǒng)的供電電源存在,診斷板即處于工作狀態(tài),即保證測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行前,完成基本診斷工作。



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