胡為東系列文章之十二--參數測量中針對夾具或探頭

接下來，可以設置延時參數為217ps，去嵌前，S21 曲線應該為一條傾斜的曲線，如下圖15 左側的黃色曲線所示，去嵌后，理論上S21 應該為一條損耗為0 的水平直線，如果不是損耗為0 的水平直線，則可以通過微調損耗參數來達到，此時的損耗參數即可作為去嵌所需要的損耗參數。

六、使用時域Gating 方法對Gigaprobe 的去嵌示例

下面為對DVT40-1mm Gigaprobe 的去嵌示例。

使用Gigaprobe 對3inch 的PCB 走線進行測量得到的阻抗曲線圖，從圖中我們可以大致分辨出哪部分是探頭的阻抗曲線，那部分是3inch 走線的阻抗曲線。

將兩個Gigaprobe 探頭的Tip 和Tip 連接到一起（實際應用中，建議使用一段100mil的PCB 走線以使連接更可靠），如下圖18 所示，白色垂直虛線為兩個探頭的中心位置（探頭的Tip 的最末端），根據這個中心位置，我們可以預測出探頭的延時。然后我們可以通過S21 來得到探頭的損耗，將延時參數和損耗參數輸入到去嵌界面中即可實現(xiàn)對Gigaprobe 探頭的去嵌。

去嵌結果如下圖19 所示：

圖19 中，白色曲線為施加Gating 去嵌之前的3inch 走線的測試結果，綠色為需要剝離部分（探頭）的阻抗曲線，粉紅色為使用Gating 去嵌原理剝離掉探頭阻抗曲線的結果，最下面的橙色曲線為3inch 走線對應的阻抗曲線的放大。

下圖20 所示為使用力科的SPARQ 和時域Gating 去嵌方法實現(xiàn)對Gigaprobe 探頭進行去嵌的兩篇技術白皮書：

七、參考文獻
[1]http://www.google.com.hk/patents/US20120323505?dq=Peter+++Time+Domain+Gating
+++SPARQ&hl=en&sa=X&ei=D83iUYzyAofokAX08IEo&ved=0CDYQ6AEwAA

[2]sparq_de-embedding_gigaprobes_using_time_domain_gating_rev_1.1，Dr.Alan
Blankman，Teledyne