基于虛擬儀器的電路板自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)硬件的基本結(jié)構(gòu)

這臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)的完成，大大簡(jiǎn)化了測(cè)試儀的制作，測(cè)試儀內(nèi)只需要連線，不再需要各種功能板卡來模擬待測(cè)板的功能，對(duì)于測(cè)試儀的維護(hù)也更簡(jiǎn)單方便。同時(shí)，它還提高了測(cè)試覆蓋率，不僅可覆蓋待測(cè)板95％以上的功能，還可檢測(cè)部分關(guān)鍵電阻、電容、電感等。對(duì)于集成度越來越高、測(cè)試點(diǎn)越來越少的待測(cè)板來說，測(cè)試覆蓋率要繼續(xù)保持90％以上不再是神話。

測(cè)試程序的開發(fā)

程序開發(fā)采用圖形化的編程語言——LabVIEW。傳統(tǒng)的功能測(cè)試儀是通過匯編語言在單片機(jī)里進(jìn)行編程的。在調(diào)試時(shí)非常麻煩。而使用LabVIEW進(jìn)行編程，能夠以直觀簡(jiǎn)便的編程方式、眾多的源碼級(jí)設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序、多種多樣的分析和表達(dá)功能支持，為用戶快捷地構(gòu)筑自己在實(shí)際生產(chǎn)中所需要的儀器系統(tǒng)創(chuàng)造了基礎(chǔ)條件。同時(shí)結(jié)合開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)，大大縮短了編程與調(diào)試時(shí)間。LabVIEW還提供了良好的人機(jī)界面，簡(jiǎn)單易懂，使操作人員易于學(xué)習(xí)和操作。

Main Level(Man-Machine Interface)

該層采用State Machine架構(gòu)，減少用戶配置軟件參數(shù)。所有State在Main VI中都加以有效的定義，測(cè)試方式采用自動(dòng)測(cè)試，首先會(huì)讀取被測(cè)對(duì)象的參數(shù)和配置，然后由測(cè)試軟件判斷測(cè)試項(xiàng)目，從而進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。

Test Level(Data Flow Control)

該層按照產(chǎn)品的各項(xiàng)功能，將每個(gè)功能拆開分別編寫對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)TEST VI。然后由主程序來直接調(diào)用。這樣可以提高各測(cè)試單元軟件的編寫效率，避免同一功能編寫多種TESTVI。

Driver Level(Hardware Operation)

該層主要用于對(duì)底層硬件的直接驅(qū)動(dòng)，避免在TEST VI中編寫繁瑣的板卡驅(qū)動(dòng)程序，該驅(qū)動(dòng)VI可以直接被TEST VI調(diào)用，可以在TEST VI中非常方便地使用板卡上的硬件資源。

測(cè)試軟件的管理

采用TestStand對(duì)測(cè)試軟件進(jìn)行管理。NI TestStand是專為測(cè)試步驟序列的自動(dòng)執(zhí)行而設(shè)計(jì)，這些測(cè)試步驟可以是單個(gè)測(cè)試、測(cè)量、動(dòng)作或命令。任何需要自動(dòng)執(zhí)行可執(zhí)行代碼段的應(yīng)用，都可以使用NI TestStand而獲益。NI TestStand的設(shè)計(jì)解決了四個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域的問題：簡(jiǎn)化與加速復(fù)雜序列的開發(fā)、提高代碼與測(cè)試程序的復(fù)用性和可維護(hù)性以及改進(jìn)測(cè)試系統(tǒng)的執(zhí)行性能。

使用TestStand不僅簡(jiǎn)化了測(cè)試儀開發(fā)階段的調(diào)試過程，同時(shí)在生產(chǎn)時(shí)可以記錄測(cè)試過程中的每一塊PCB板的測(cè)試結(jié)果，方便生產(chǎn)過程的控制，也方便維修人員對(duì)于故障的確認(rèn)，節(jié)省了時(shí)間，提高了效率。

總結(jié)

目前，測(cè)試系統(tǒng)已投入生產(chǎn)，測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)成功驗(yàn)證了NI公司的LabVIEW、TestStand及各模塊的強(qiáng)大功能。這也為我們研發(fā)測(cè)試系統(tǒng)節(jié)省了時(shí)間和成本。