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EMI測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是什么

作者: 時(shí)間:2017-10-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  目前,涉及到 測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),主要為:歐規(guī)(EN55022),美規(guī)(FCC)

本文引用地址:http://butianyuan.cn/article/201710/366048.htm

  相關(guān)名詞:

  非故意輻射(UnintenTIonal):產(chǎn)品產(chǎn)生不想要的電磁波輻射,造成干擾;如:電腦,LCDMonitor,DVD,電視,投影機(jī)等;

  故意輻射(intenTIonal):使用無線電波進(jìn)行通信;

  FCC 只測(cè)試

  RE(輻射干擾):測(cè)試頻率范圍30MHZ~1GHZ;

  CE(電源干擾):測(cè)試頻率范圍 150KHZ~30MHZ;

  主要的 測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn):

  歐盟:EN55022(EMI 參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn));EN55024(EMS 參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn));

  美國:FCC Part 15B(EMI 參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn));

  臺(tái)灣:CNS 13438 (EMI 參考測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))

  

  二、測(cè)試

  EMI 測(cè)試定義:測(cè)試待測(cè)物EUT 產(chǎn)生的輻射干擾強(qiáng)度,分為RE 測(cè)試和CE 測(cè)試兩種。

  1)、RE 測(cè)試:量測(cè)EUT 產(chǎn)生的輻射干擾,其測(cè)試頻率范圍:30MHZ~1GHZ。

  測(cè)試方法:參考相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) EN55022 或者其他測(cè)試標(biāo)準(zhǔn);

  測(cè)試距離及場(chǎng)合:10 米量測(cè),在開放式場(chǎng)合;

  測(cè)試方式:量測(cè) EUT 產(chǎn)生的電磁波輻射(30MHZ~1GHZ)。

  2)、CE 測(cè)試:量測(cè)EUT 產(chǎn)生的傳導(dǎo)輻射干擾,其測(cè)試頻率范圍:150K~30MHZ.

  測(cè)試方法:參考相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)EN55022 或者其他測(cè)試標(biāo)準(zhǔn);

  測(cè)試方式1:量測(cè)電磁波雜訊出現(xiàn)在EUT 的DA 和AC 電影端(150K~30MHZ);

  測(cè)試方式 2:量測(cè)電信端口端出現(xiàn)的輻射干擾值(150K~30MHZ)。

  說明:由于RE 測(cè)試是采用開放式的測(cè)試場(chǎng)合,易受空中的廣播FM(88MHZ~108MHZ),手機(jī)(900MHZ)雜訊的干擾;

  三、測(cè)試要求

  通過測(cè)試 EUT,檢測(cè)其輻射干擾數(shù)值

  1)、FCC 測(cè)試要求:

  

  2)、EN55022 測(cè)試要求:

  a)、傳導(dǎo)干擾測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

  

  b)共模干擾測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

  

  c)輻射干擾測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

  



關(guān)鍵詞: EMI 電磁干擾

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